[发明专利]用于温度计现场校准的方法和装置

权利要求书

1.一种用于确定和/或监视介质的温度(T)的装置(1)，所述装置包括至少一个温度传感器(2)和用于所述温度传感器(2)的现场校准和/或验证的至少两个参考元件(3、3a、3b)，

其特征在于：

所述第一参考元件(3a)至少部分地由第一材料构成，在该第一材料的情况下，在与所述温度传感器(2)的校准相关的温度范围内的至少第一预定相变温度(Tph,1)下发生至少二阶的至少一个相变，

所述第二参考元件(3b)至少部分地由第二材料构成，在该第二材料的情况下，在与所述温度传感器的校准相关的温度范围内的至少第二预定相变温度(Tph,2)下发生至少二阶的至少一个相变，以及

所述至少两个参考元件(3a、3b)恰好经由两条连接线(4c、4d)接触。

2.根据权利要求1所述的装置，

其特征在于：

至少两种材料中的至少一种材料是铁电材料或铁磁材料，所述材料尤其是以固体形式存在。

3.根据前述权利要求中的至少一项所述的装置，

其特征在于：

所述至少两种材料中的至少一种材料中的至少一个相变导致所述材料的晶体结构的变化和/或体积变化和/或电介质或电性质的变化，所述电介质或电性质的变化尤其是突然变化。

4.根据前述权利要求中的至少一项所述的装置，

其特征在于：

所述至少两种材料中的至少一种材料中的至少一个相变伴随有从顺磁性状态到铁磁性状态、从铁磁性状态到顺磁性状态、从铁电性状态到顺电性状态和/或从顺电性状态到铁电性状态的变化。

5.根据前述权利要求中的至少一项所述的装置，

其特征在于：

所述温度传感器(2)和所述至少两个参考元件(3a、3b、3c、3d、3e)被布置在单个传感器头(1a)中。

6.根据前述权利要求中的至少一项所述的装置，

其特征在于：

所述至少两个参考元件(3a、3b、3c、3d、3e)以总参考元件(7)的形式彼此相邻地沿着假想水平轴线(L)布置，所述至少两个参考元件尤其实施为条形的，所述总参考元件(7)在与所述假想水平轴线(L)平行的相对安置的两个面(A、A')的至少一个面的区域或者两个面的区域中至少部分地涂覆有导电涂层(8、8')——尤其是金属涂层，使得所述涂层(8、8')至少部分地覆盖所述至少两个参考元件(3a、3b、3c、3d、3e)中的每一个。

7.根据权利要求6所述的装置，

其特征在于：

所述总参考元件(7)和所述温度传感器(2)实质上直接彼此相邻布置或一个在另一个顶部上布置，其中所述总参考元件(A、A')的至少一个至少部分涂覆的第一面小于所述温度传感器(2)的面向所述总参考元件(7)并且与所述总参考元件(7)毗连的第一面(B)，其中，用于接触所述总参考元件(7)的第一连接线(4c)被附接在总参考元件(7)的第一面(A)的区域中，以及其中，第二连接线(4d)被附接到温度传感器(2)的第一面(B)。

8.根据权利要求6所述的装置，

其特征在于：

所述总参考元件(7)的至少一个至少部分涂覆的面(A、A')被实施成使得至少第一部(9)和第二部(9')被涂覆，该两个部(9、9')利用电绝缘分隔层(10)彼此绝缘，其中，至少所述两个部(9、9')至少部分地覆盖所述至少两个参考元件(3a、3b、3c、3d、3e)中的每一个。

9.根据前述权利要求中的至少一项所述的装置，

其特征在于：

至少所述第一相变温度(Tph,1)和第二相变温度(Tph,2)相差至少1K。