[发明专利]用于光学检测至少一个对象的检测器有效

专利信息
申请号: 201680041782.0 申请日: 2016-07-14
公开(公告)号: CN108027239B 公开(公告)日: 2020-07-24
发明(设计)人: R·森德;I·布鲁德;S·瓦鲁施 申请(专利权)人: 特里纳米克斯股份有限公司
主分类号: G01C3/32 分类号: G01C3/32;G01S17/46;G01S3/784;G01S5/16;G01S7/481;G01S11/12
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 姜利芳;杨晓光
地址: 德国莱茵河*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 光学 检测 至少 一个 对象 检测器
【权利要求书】:

1.一种用于确定至少一个对象(118)的位置的检测器(110),所述检测器(110)包括:

-至少一个光学传感器(112),所述光学传感器(112)被配置为检测由从所述对象(118)朝向所述检测器(110)传播的至少一个光束(150)生成的至少一个光斑(156),所述光学传感器(112)具有至少一个像素(154)矩阵(152),每个像素(154)适于响应于由所述光束(150)对所述像素(154)的照射而生成至少一个像素信号si,j

-至少一个非线性化装置(123),其被配置为将所有像素(154)i、j或至少一个像素(154)组的所述像素信号si,j变换成非线性像素信号s’i,j,所述非线性像素信号s’i,j每一个都是相应像素(154)的所述照射的功率pi,j的非线性函数;

-至少一个求和装置(125),其被配置为将所有像素(154)i、j或所述至少一个像素(154)组的非线性像素信号s’i,j相加并且生成至少一个非线性和信号S′=∑i,js′i,j;以及

-至少一个评估装置(126),所述评估装置(126)被配置为通过评估所述非线性和信号S’来确定所述对象(118)的至少一个纵向坐标z,

其中所述检测器(110)被配置为使得所述非线性和信号S’是由所述光束(150)对所述光学传感器(112)或所述至少一个像素(154)组的整体照射功率P=∑i,jpi,j和由所述光束(150)在所述光学传感器(112)上生成的光斑(156)的尺寸d的函数S’(P,d)。

2.根据权利要求1所述的检测器(110),其中所述评估装置(126)被配置为通过使用所述和信号S’与所述纵向坐标z之间的至少一个预定关系来确定所述对象(118)的所述至少一个纵向坐标z。

3.根据权利要求1或2所述的检测器(110),其中所述非线性化装置(123)被配置为将至少一个非线性函数g(si,j)应用于所述非线性像素信号,其中s’i,j=g(si,j),其中i、j表示所有像素(154)或所述至少一个像素(154)组。

4.根据权利要求3所述的检测器(110),其中所述非线性函数选自以下函数中的一个或多个:凸函数;凹函数;多项式函数;指数函数;对数函数;根函数;伽马校正函数。

5.根据权利要求1、2和4中任一项所述的检测器(110),其中所述检测器(110)被配置为在所述像素(154)矩阵(152)内选择至少一个感兴趣的区域,其中所述感兴趣的区域内的所述像素(154)形成所述至少一个像素(154)组。

6.根据权利要求5所述的检测器(110),其中所述检测器(110)包括多个开关,其中所述检测器(110)被配置为通过使用所述开关来执行所述选择。

7.根据权利要求1、2、4和6中任一项所述的检测器(110),其中所述光学传感器(112)被配置为使得至少在预定的测量范围(158)内,所述像素(154)的所述像素信号si,j是相应像素的所述照射的功率pi,j的线性函数。

8.根据权利要求7所述的检测器(110),其中所述检测器(110)被配置为使得所有像素(154)i、j或所述至少一个像素(154)组的所述像素信号si,j的和信号S=∑i,jsi,j是所述整体照射功率P的函数S(P),并且独立于由所述光束(150)在所述光学传感器(112)上生成的所述光斑(156)的尺寸d,其中所述检测器(110)被配置为另外记录所述和信号S,其中所述评估装置(126)进一步被配置为通过使用所述和信号S来确定所述对象(118)的所述至少一个纵向坐标z。

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