[发明专利]用于光学显微镜中的图像处理的系统和方法有效
申请号: | 201680043260.4 | 申请日: | 2016-07-18 |
公开(公告)号: | CN107850766B | 公开(公告)日: | 2022-04-05 |
发明(设计)人: | P.C.戈德温 | 申请(专利权)人: | 徕卡显微系统CMS有限公司 |
主分类号: | G02B21/00 | 分类号: | G02B21/00;G02B21/16;G02B21/36 |
代理公司: | 北京思益华伦专利代理事务所(普通合伙) 11418 | 代理人: | 赵飞 |
地址: | 德国韦*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 光学 显微镜 中的 图像 处理 系统 方法 | ||
1.一种用于在光学显微镜检查中对图像进行处理的方法,所述方法包含:
利用显微镜来采集原始图像,其中,所述原始图像具有不对称分辨率;
使用在X方向上与在Y方向上不同的点扩散函数来对所述原始图像的至少一部分进行不对称地去卷积,以便生成不对称地去卷积的图像;以及
在显示装置上显示所述不对称地去卷积的图像,
其中所述X方向和所述Y方向独立地去卷积。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述原始图像具有椭圆点扩散函数,所述椭圆点扩散函数具有所述Y方向上的共焦性和所述X方向上的宽场。
3.根据权利要求2所述的方法,其中,使用所述点扩散函数来对所述原始图像进行不对称地去卷积还包含:
至少部分地基于所述X方向上的宽场点扩散函数而确定所述点扩散函数;以及
将所述点扩散函数应用于所述Y方向上的共焦点扩散函数。
4.根据权利要求3所述的方法,其中,使用所述点扩散函数来对所述原始图像进行不对称地去卷积还包含:
使用宽场点扩散函数来对所述X方向进行去卷积;以及
使用共焦点扩散函数来对所述Y方向进行去卷积。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,共焦点扩散函数是宽场点扩散函数的平方根。
6.根据权利要求1所述的方法,其中,所述显微镜的光子收集效率是等效的宽场显微镜的至少10%。
7.根据权利要求1所述的方法,其中,所述显微镜是线扫描共焦显微镜、活细胞共焦显微镜、“旋转盘”显微镜、荧光显微镜、去卷积显微镜或点扫描共焦显微镜。
8.根据权利要求1所述的方法,其中,所述原始图像是单色荧光图像。
9.根据权利要求1所述的方法,其中,对所述X方向或Y方向进行去卷积包含贝叶斯去卷积、理查森露西去卷积、维纳去卷积、傅里叶去卷积、小波或计算去卷积的其它图像处理方法。
10.一种用于在光学显微镜检查中对图像进行处理的系统,所述系统包含:
(a)输入装置,配置成提供来自CMOS相机的图像数据;以及
(b)至少一个处理器,耦合至所述输入装置,并且配置成:
使用沿着X轴与沿着Y轴不同的点扩散函数来对所述图像数据的至少一部分进行不对称地去卷积,以便生成不对称地去卷积的图像,
其中所述X方向和所述Y方向独立地去卷积。
11.根据权利要求10所述的系统,其中,所述至少一个处理器包含中央处理单元、图形处理单元以及浮点单元中的至少一个。
12.根据权利要求10所述的系统,其中,所述图像数据包含具有不对称分辨率的单色荧光图像。
13.根据权利要求12所述的系统,其中,所述单色荧光图像包含椭圆点扩散函数,所述椭圆点扩散函数具有所述Y轴上的共焦性和所述X轴上的宽场。
14.根据权利要求13所述的系统,其中,所述至少一个处理器进一步配置成:
至少部分地基于所述X轴上的宽场点扩散函数而确定所述点扩散函数;以及
将所述点扩散函数应用于所述Y轴上的共焦点扩散函数。
15.根据权利要求14所述的系统,其中,所述至少一个处理器进一步配置成:
使用宽场点扩散函数来对所述X轴进行去卷积;以及
使用共焦点扩散函数来对所述Y轴进行去卷积。
16.根据权利要求15所述的系统,其中,共焦点扩散函数是宽场点扩散函数的平方根。
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