[发明专利]一种用于校准磁共振成像(MRI)体模的方法

权利要求书

1.一种用于校准磁共振成像(MRI)体模的方法，所述磁共振成像(MRI)体模具有预期的几何结构并且在所述几何结构内包括具有已知具有几何不准确性的位置的至少一个MRI可检测部分，其中，所述方法包括以下步骤：

-步骤1：将所述磁共振成像(MRI)体模(210)放置在磁共振成像系统中的预定位置处，使得所述MRI可检测部分在所述磁共振成像系统的梯度系统的对称平面(110、112、114)内，以及；

-步骤2：借助于第一序列来采集所述磁共振成像(MRI)体模的所述MRI可检测部分的MRI图像，其中，所述MRI图像包括多个切片；

-步骤3：基于所述MRI可检测部分在所述MRI图像中的位置和表示来确定所述磁共振成像(MRI)体模的所述MRI可检测部分的所述几何不准确性。

2.一种用于校准磁共振成像(MRI)体模的方法，所述磁共振成像(MRI)体模在所述磁共振成像(MRI)体模内包括具有与预期的几何结构偏离由制造不精确所导致的未知的几何不准确性的位置的至少一个MRI可检测部分，其中，所述方法包括以下步骤：

-步骤1：将所述磁共振成像(MRI)体模(210)放置在磁共振成像系统中的预定位置处，使得所述MRI可检测部分至少部分位于对称平面(110、112、114)内，即，沿着所述磁共振成像系统的梯度系统的x＝0平面、y＝0平面或z＝0平面中的一个；

-步骤2：借助于第一序列来采集所述磁共振成像(MRI)体模的所述MRI可检测部分的MRI图像，其中，所述MRI图像包括多个切片；

-步骤3：基于所述MRI可检测部分在所述MRI图像中的位置和表示来确定所述磁共振成像(MRI)体模的所述MRI可检测部分的所述几何不准确性，即，所述MRI可检测部分的实际位置与所述预期的几何结构的偏离。

3.根据权利要求1-2中的任一项所述的用于校准磁共振成像(MRI)体模的方法，其中，所述至少一个MRI可检测部分具有平的或弯曲的板或具有多个平的或弯曲的板(212、215、216)的形状。

4.根据权利要求3所述的用于校准磁共振成像(MRI)体模的方法，其中，所述多个平的或弯曲的板借助于连接件(240)彼此连接，使得所述多个平的或弯曲的板连接但间隔开。

5.根据权利要求1-2中的任一项所述的用于校准磁共振成像(MRI)体模的方法，其中，执行以下步骤：

i)将包括多个MRI可检测部分的所述磁共振成像(MRI)体模的第一MRI可检测部分(212)移动到z＝0平面(110)；

ii)在读出方向上获取所述第一MRI可检测部分的具有亚毫米切片和高信号带宽的3D扫描；

iii)将所述磁共振成像(MRI)体模的后续MRI可检测部分移动到所述z＝0平面；

iv)针对所述磁共振成像(MRI)体模的所有MRI可检测部分重复先前的步骤。

6.根据权利要求1-2中的任一项所述的用于校准磁共振成像(MRI)体模的方法，其中，所述MRI图像是在读出方向上使用＞250Hz/mm的接收带宽来采集的。

7.根据权利要求1-2中的任一项所述的用于校准磁共振成像(MRI)体模的方法，其中，所述方法的步骤1至步骤3被应用于所述磁共振成像(MRI)体模的多个MRI可检测部分。

8.根据权利要求7所述的用于校准磁共振成像(MRI)体模的方法，其中，所述磁共振成像(MRI)体模在确定第一MRI可检测部分的所述几何不准确性与确定第二MRI可检测部分的所述几何不准确性之间进行移动。

9.根据权利要求8所述的用于校准磁共振成像(MRI)体模的方法，其中，所述磁共振成像(MRI)体模被放置在所述磁共振成像系统的扫描器台(280)上，并且所述移动是借助于移动所述扫描器台来执行的。