[发明专利]直动旋转检测器

权利要求书

1.一种直动旋转检测器，其特征在于，具有：

圆筒状的磁尺，其在轴线方向上直动，并且绕轴线旋转；

直动位置检测用的第一磁检测元件；以及

旋转位置检测用的第二磁检测元件，

所述磁尺在绕所述轴线的周面具有格子状的磁化图案，所述磁化图案在所述轴线方向上交替排列有S极和N极，并且绕所述轴线交替磁化出了S极和N极，

所述第一磁检测元件以及所述第二磁检测元件与所述磁化图案相对地配置。

2.根据权利要求1所述的直动旋转检测器，其特征在于，

所述直动旋转检测器具有传感器基板，所述传感器基板具备所述第一磁检测元件和所述第二磁检测元件。

3.根据权利要求2所述的直动旋转检测器，其特征在于，

所述第一磁检测元件是磁阻元件，具备彼此以90°的相位差检测所述磁尺的直动的A相的第一磁阻图案以及B相的第一磁阻图案，

所述第二磁检测元件是磁阻元件，具备彼此以90°的相位差检测所述磁尺的旋转的A相的第二磁阻图案以及B相的第二磁阻图案，

所述A相的第一磁阻图案和所述B相的第一磁阻图案层叠在所述传感器基板上，

所述A相的第二磁阻图案和所述B相的第二磁阻图案层叠在所述传感器基板上。

4.根据权利要求3所述的直动旋转检测器，其特征在于，

所述A相的第一磁阻图案、所述B相的第一磁阻图案、所述A相的第二磁阻图案以及所述B相的第二磁阻图案层叠在所述传感器基板上。

5.根据权利要求3或4所述的直动旋转检测器，其特征在于，

所述第一磁检测元件在所述传感器基板上的与所述磁尺的绕轴方向对应的方向上的宽度比在所述传感器基板上的与所述磁尺的轴线方向对应的方向上的高度短，

所述第二磁检测元件在所述传感器基板上的与所述磁尺的绕轴方向对应的方向上的宽度比在所述传感器基板上的与所述磁尺的轴线方向对应的方向上的高度短。

6.根据权利要求5所述的直动旋转检测器，其特征在于，

所述传感器基板上的所述第一磁检测元件的宽度方向的中心以及所述第二磁检测元件的宽度方向的中心与所述磁尺的曲率的顶点相对。

7.根据权利要求4所述的直动旋转检测器，其特征在于，

所述A相的第一磁阻图案具备以180°的相位差检测所述磁尺的直动的+a相的第一磁阻图案和-a相的第一磁阻图案，

所述B相的第一磁阻图案具备以180°的相位差检测所述磁尺的直动的+b相的第一磁阻图案和-b相的第一磁阻图案，

所述A相的第二磁阻图案具备以180°的相位差检测所述磁尺的直动的+a相的第二磁阻图案和-a相的第二磁阻图案，

所述B相的第二磁阻图案具备以180°的相位差检测所述磁尺的直动的+b相的第二磁阻图案和-b相的第二磁阻图案，

所述+a相的第一磁阻图案、-a相的第一磁阻图案、+b相的第一磁阻图案、所述+b相的第一磁阻图案、所述+a相的第二磁阻图案、-a相的第二磁阻图案、+b相的第二磁阻图案以及所述+b相的第二磁阻图案被层叠起来。

8.根据权利要求1所述的直动旋转检测器，其特征在于，

所述直动旋转检测器具有第一传感器基板，该第一传感器基板具备所述第一磁检测元件，

所述第一磁检测元件是磁阻元件，包括彼此以90°的相位差检测所述磁尺的直动的A相的第一磁阻图案以及B相的第一磁阻图案，

所述A相的第一磁阻图案和所述B相的第一磁阻图案层叠在所述第一传感器基板上。

9.根据权利要求8所述的直动旋转检测器，其特征在于，

所述第一磁检测元件在所述第一传感器基板上的与所述磁尺的绕轴方向对应的方向上的宽度比在所述第一传感器基板上的与所述磁尺的轴线方向对应的方向上的高度短。