[发明专利]用于确定空间依赖的X射线通量退化和光子谱改变的设备有效

专利信息
申请号: 201680058088.X 申请日: 2016-10-04
公开(公告)号: CN108135562B 公开(公告)日: 2022-08-16
发明(设计)人: L·D·米勒;C·里宾;D·范德芬 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;A61B6/00;H05G1/54
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 王英;刘炳胜
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 确定 空间 依赖 射线 通量 退化 光子 改变 设备
【权利要求书】:

1.一种用于确定针对X射线管(20)的空间依赖的X射线通量退化和光子谱变化的设备(10),包括:

- 采集单元(11),

- 处理单元(12),

- 计算单元(13),以及

- 组合单元(14);

其中,所述采集单元(11)被配置为采集针对所述X射线管(20)的X射线通量退化数据;

其中,所述处理单元(12)被配置为将所述X射线通量退化数据处理成空间依赖的通量退化数据;

其中,所述计算单元(13)被配置为至少计算所述X射线管(20)的光子谱变化,并且将所述光子谱变化转换成空间依赖的谱;并且

其中,所述组合单元(14)被配置为将所述空间依赖的通量退化数据与所述空间依赖的谱进行组合。

2.根据权利要求1所述的设备(10),其中,所述组合单元(14)还被配置为基于空间依赖的通量退化数据与所述空间依赖的谱的所述组合来预测由所述X射线管(20)生成的X射线束的谱成分。

3.根据权利要求1所述的设备(10),其中,所述采集单元(11)被配置为通过测量所述X射线管(20)的输出来采集X射线通量退化数据。

4.根据权利要求3所述的设备(10),其中,对所述X射线管(20)的所述输出的所述测量基于以下的组中的至少一个:扫描器探测器信号、扫描器参考探测器信号、扫描器探测器噪声方差、扫描器参考探测器噪声方差、X射线系统探测器信号、X射线系统参考探测器信号、X射线系统探测器噪声方差、X射线系统参考探测器噪声方差、谱探测器双能量或光子计数、具有不同滤波性质的至少两个参考探测器、背散射电子、所述X射线管(20)的阳极中的X射线散射、随时间对不同焦斑和/或焦斑尺寸的探测器信号的比较,以及其组合。

5.根据权利要求4所述的设备(10),其中,所述处理单元(12)被配置为通过基于使用历史数据计算空间依赖的通量退化数据来将所述X射线通量退化数据处理成空间依赖的通量退化数据。

6.根据权利要求5所述的设备(10),其中,基于使用历史数据对所述空间依赖的通量退化数据的所述计算依赖于以下的组中的至少一个:所述焦斑的温度、焦轨的温度、时间、所述X射线管(20)的切换模式,以及针对所述焦斑的尺寸和径向位置的表征数。

7.根据权利要求5所述的设备(10),其中,所述处理单元(12)还被配置为基于针对所述焦斑的尺寸和径向位置的表征数以及X射线扫描的类型来计算作为以下项的函数的累积通量退化数据:焦斑的加和、由所述X射线管(20)进行的X射线暴露的加和、所述空间依赖的通量退化数据,以及加权因子。

8.根据权利要求1至4中的一项所述的设备(10),其中,所述处理单元(12)被配置为通过借助于聚焦的X射线映射束测量所述空间依赖的通量退化数据来将所述X射线通量退化数据处理成空间依赖的通量退化数据。

9.根据权利要求8所述的设备(10),其中,借助于聚焦的X射线映射束的测量被用于将焦斑移动到焦轨上的不同位置。

10.根据权利要求1至4中的一项所述的设备(10),其中,所述处理单元(12)被配置为通过测量基于探测器噪声和/或背散射电子的X射线剂量下降来将所述X射线通量退化数据处理成空间依赖的通量退化数据。

11.根据权利要求1至4中的一项所述的设备(10),其中,所述计算单元(13)被配置为至少计算所述X射线管(20)的光子谱变化,并且基于X射线辐射强度、X射线辐射能量、衰减系数以及X射线辐射在衰减介质中行进的距离来将所述光子谱变化转换成所述空间依赖的谱。

12.根据权利要求1至4中的一项所述的设备(10),所述计算单元(13)的所述计算适于基于所述空间依赖的通量退化数据。

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