[发明专利]用于低相干干涉测量的分布式延迟线在审
| 申请号： | 201680059123.X | 申请日： | 2016-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN108139200A | 公开（公告）日： | 2018-06-08 |
| 发明（设计）人： | J·叁考·杜拉;A·马丁;J·L·卢比欧·吉唯尔那;E·马伽罗·巴尔巴斯 | 申请（专利权）人： | 梅德路米克斯有限公司 |
| 主分类号： | G01B9/02 | 分类号： | G01B9/02;G02B6/12;G02B6/28;G02B6/43;A61B3/10 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 魏小薇 |
| 地址： | 西班牙*** | 国省代码： | 西班牙;ES |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 调制 光学相干断层扫描系统 群延迟 延迟线 延迟线元件 干涉测量 功耗降低 扫描样本 轴向扫描 电频带 频谱带 相干 多路 时域 信道 扫描 图案 引入 | ||
1.一种光学相干断层扫描系统，包括：
光源，被配置为提供辐射束；
光学元件，被配置为朝着样本臂指引所述辐射束的第一部分并且朝着参考臂指引所述辐射束的第二部分；以及
检测器，被配置为从所述样本臂和所述参考臂接收所述辐射束的第一部分和第二部分，
其中所述参考臂包括多个级，每个级具有固定群延迟元件和群延迟调制器，其中所述固定群延迟元件和所述群延迟调制器被配置为引入群延迟，使得所述辐射束的与独特的轴向扫描深度范围对应的第一部分与所述辐射束的第二部分进行干涉。
2.如权利要求1所述的光学相干断层扫描系统，其中所述样本臂和所述参考臂通过使用绝缘体上硅(SOI)技术来实现。
3.如权利要求1所述的光学相干断层扫描系统，其中所述级经由光学耦合器串联耦合在一起。
4.如权利要求3所述的光学相干断层扫描系统，其中所述光学耦合器是2×2光学耦合器。
5.如权利要求1所述的光学相干断层扫描系统，其中级被耦合在一起以形成2n个信道，其中n是级的数量。
6.如权利要求5所述的光学相干断层扫描系统，其中信道之间的有效群延迟差是均匀的。
7.如权利要求1所述的光学相干断层扫描系统，其中每个群延迟元件包括热光调制器。
8.如权利要求1所述的光学相干断层扫描系统，其中在每个级中的固定延迟元件引起与在其它级中的固定延迟元件不同的群延迟。
9.如权利要求8所述的光学相干断层扫描系统，其中施加到每个群延迟调制器的相位调制信号的频率相同。
10.如权利要求1所述的光学相干断层扫描系统，其中所述独特的轴向扫描深度范围中的两个范围至少部分地重叠。
11.一种光学相干断层扫描系统，包括：
光源，被配置为提供辐射束；
光学元件，被配置为朝着样本臂指引所述辐射束的第一部分并且朝着参考臂指引所述辐射束的第二部分；以及
检测器，被配置为从所述样本臂和所述参考臂接收所述辐射束的第一部分和第二部分，
其中所述样本臂包括多个级，每个级具有固定群延迟元件和群延迟调制器，其中固定群延迟元件和所述群延迟调制器被配置为引入群延迟，使得所述辐射束的与独特的轴向扫描深度范围对应的第一部分与所述辐射束的第二部分进行干涉。
12.如权利要求11所述的光学相干断层扫描系统，其中所述样本臂和所述参考臂通过使用绝缘体上硅(SOI)技术来实现。
13.如权利要求11所述的光学相干断层扫描系统，其中所述级经由光学耦合器串联耦合在一起。
14.如权利要求13所述的光学相干断层扫描系统，其中所述光学耦合器是2×2光学耦合器。
15.如权利要求11所述的光学相干断层扫描系统，其中级被耦合在一起以形成2n个信道，其中n是级的数量。
16.如权利要求15所述的光学相干断层扫描系统，其中信道之间的有效群延迟是均匀的。
17.如权利要求11所述的光学相干断层扫描系统，其中每个群延迟调制器包括热光调制器。
18.如权利要求11所述的光学相干断层扫描系统，其中在每个级中的固定延迟元件引起与在其它级中的固定延迟元件不同的群延迟。
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