[发明专利]光学结构及光学光检测系统

权利要求书

1.一种光学结构，包括：

开口，用于接收芯片，所述芯片包括多个井，所述多个井用于接收待分析的流体样品于其中；以及

光学掩膜，包括多个孔，其中所述光学掩膜被定位成贴近所述开口，使得当所述芯片在所述开口中被接收时，所述光学掩膜面向所述芯片，且其中所述多个孔被配置为延伸穿过所述光学掩膜以用于接收及引导分别来自所述多个井的光。

2.根据权利要求1所述的光学结构，其中所述多个孔中的每一个是基于预定位置被布置于所述光学掩膜上，所述预定位置是当所述芯片被接收于所述开口中时，所述多个井中的对应的井被配置的位置。

3.根据权利要求1所述的光学结构，其中所述多个孔中的每一个被配置为使得延伸穿过所述光学掩膜的所述孔的中心轴与形成有所述多个孔的所述光学掩膜的表面垂直的轴有一个偏离夹角。

4.根据权利要求3所述的光学结构，其中所述孔的所述中心轴与所述轴的所述偏离夹角是基于预定位置被配置的，所述预定位置是当所述芯片被接收于所述开口中时，所述多个井中之的对应的井被配置的位置。

5.根据权利要求4所述的光学结构，其中所述孔的所述中心轴被配置为与所述对应的井的所述预定位置相交。

6.根据权利要求3至5中任一项所述的光学结构，其中所述角度是在约5°至约60°的范围内。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的光学结构，其中所述多个孔中的一个或多个被配置为具有锥形形状。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的光学结构，其中所述开口被配置为可移除地接收所述芯片。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的光学结构，其中所述光学结构被配置为可移除地接收所述光学掩膜。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的光学结构，其中所述光学结构是无透镜的。

11.根据权利要求1至10中任一项所述的光学结构，其中所述光学掩膜被布置为贴近所述开口，使得当所述芯片在所述开口中被接收时，所述光学掩膜紧贴所述芯片。

12.一种光学光检测系统，包括：

根据权利要求1至10中任一项所述的光学结构，以接收芯片于其中，所述芯片包括多个井，所述多个井用于接收待分析的流体样品于其中；

光源，被配置为朝向所述光学结构发射光；以及

检测器，用于检测来自接收了的所述流体样品于其中的所述多个井中的每一个的光信号。

13.根据权利要求12所述的光学光检测系统，其中当所述芯片在所述开口中被接收时，响应于来自所述光源的光，所述光学结构的所述光学掩膜的所述多个孔用于将来自所述多个井的所述光信号分别引导至所述检测器。

14.根据权利要求13所述的光学光检测系统，其中所述多个孔中的每一个被配置为使得所述孔的所述中心轴与从所述对应的井至所述检测器处的靶点的所述光信号的轨迹线对准。

15.根据权利要求12至14中任一项所述的光学光检测系统，还包括布置于所述检测器及所述光学结构之间的遮光部件，所述遮光部件用于包围所述光学结构的一侧的所述多个孔，以防止或最小化外部噪声影响从所述多个井至所述检测器的所述光信号。

16.根据权利要求12至15中任一项所述的光学光检测系统，其中所述光源包括多个发光组件，每个发光组件用于发射光以照射所述芯片的对应的井。

17.根据权利要求12至16中任一项所述的光学光检测系统，其中所述光源、所述光学结构及所述检测器被设置成大致沿着同一轴线。