[发明专利]直动旋转检测器

权利要求书

1.一种直动旋转检测器，其特征在于，该直动旋转检测器具有：

圆筒状的磁尺，其沿轴线方向直动并且绕轴线旋转；

直动位置检测用的第1磁检测元件；

旋转位置检测用的第2磁检测元件；

反射图案，其用于检测所述轴线方向和绕着所述轴线的方向中的至少一方的原点位置；以及

光传感器，其具有检测部，该检测部检测来自所述反射图案的检查光的反射光，

所述磁尺具有格子状的磁化图案，该磁化图案在绕着所述轴线的周面上沿着所述轴线方向交替地排列有S极和N极，并且绕着所述轴线交替地磁化出S极和N极，

所述第1磁检测元件和所述第2磁检测元件与所述磁化图案对置配置，

所述反射图案设置于所述磁尺中的与所述磁化图案重叠的位置。

2.根据权利要求1所述的直动旋转检测器，其特征在于，

所述直动旋转检测器具有片状部件，该片状部件具有所述反射图案，

所述片状部件粘贴在所述磁尺中的所述磁化图案的表面上。

3.根据权利要求1或2所述的直动旋转检测器，其特征在于，

所述反射图案在所述磁化图案的表面上沿着所述轴线方向以恒定宽度延伸，用于检测绕着所述轴线的方向上的原点位置。

4.根据权利要求1或2所述的直动旋转检测器，其特征在于，

所述反射图案在所述磁化图案的表面上绕着轴线以恒定宽度延伸，用于检测所述轴线方向上的原点位置。

5.根据权利要求4所述的直动旋转检测器，其特征在于，

所述直动旋转检测器具有第1方向侧反射图案和第2方向侧反射图案作为所述反射图案，该第1方向侧反射图案用于检测所述轴线方向的第1方向上的第1原点位置，该第2方向侧反射图案用于检测与所述第1方向相反的第2方向上的第2原点位置，

所述直动旋转检测器具有第1光传感器和第2光传感器作为所述光传感器，该第1光传感器检测来自所述第1方向侧反射图案的所述反射光，该第2光传感器检测来自所述第2方向侧反射图案的所述反射光。

6.根据权利要求2所述的直动旋转检测器，其特征在于，

所述反射图案具有第1反射图案部分和第2反射图案部分，该第1反射图案部分用于检测绕着所述轴线的方向上的原点位置，该第2反射图案部分用于检测所述轴线方向上的原点位置，

所述第1反射图案部分在所述磁化图案的表面上沿着所述轴线方向以恒定宽度延伸，

所述第2反射图案部分在所述磁化图案的表面上绕着轴线以恒定宽度延伸。

7.根据权利要求1至6中的任意一项所述的直动旋转检测器，其特征在于，

所述直动旋转检测器具有传感器基板，该传感器基板具有所述第1磁检测元件和所述第2磁检测元件，

所述第1磁检测元件是磁阻元件，具有以彼此90°的相位差来检测所述磁尺的直动的A相的第1磁阻图案和B相的第1磁阻图案，

所述第2磁检测元件是磁阻元件，具有以彼此90°的相位差来检测所述磁尺的旋转的A相的第2磁阻图案和B相的第2磁阻图案，

所述A相的第1磁阻图案和所述B相的第1磁阻图案在所述传感器基板上层叠，

所述A相的第2磁阻图案和所述B相的第2磁阻图案在所述传感器基板上层叠。

8.根据权利要求7所述的直动旋转检测器，其特征在于，

所述第1磁检测元件在所述传感器基板上的与绕着所述磁尺的轴线的方向对应的宽度方向上的中心与所述第2磁检测元件的所述宽度方向上的中心在所述传感器基板上重叠，

所述光传感器的所述检测部与通过所述第1磁检测元件和所述第2磁检测元件的宽度方向上的中心并且包含所述轴线在内的假想面重叠，

所述第1磁检测元件在所述宽度方向上的中心、所述第2磁检测元件在所述宽度方向上的中心以及所述检测部与所述磁尺的曲率的顶点对置。

9.根据权利要求7或8所述的直动旋转检测器，其特征在于，

所述检测部比所述第1磁检测元件和所述所述第2磁检测元件离所述磁尺的表面远。