[发明专利]光学脉冲检测装置、光学脉冲检测方法、辐射计数装置和生物测试装置有效

专利信息
申请号: 201680060729.5 申请日: 2016-11-04
公开(公告)号: CN108139268B 公开(公告)日: 2021-03-16
发明(设计)人: 西原利幸;奥村健市 申请(专利权)人: 索尼半导体解决方案公司
主分类号: G01J1/44 分类号: G01J1/44;G01J1/02;G01T1/20;H04N5/32;H04N5/3745
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 代理人: 王新春;曹正建
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 光学 脉冲 检测 装置 方法 辐射 计数 生物 测试
【权利要求书】:

1.一种光学脉冲检测装置,包括:

像素阵列部,其中多个像素以二维格子状排列;

AD转换器,其将所述像素阵列部的各像素的输出信号转换成具有大于1位的灰度的数字值;和

控制电路,其进行将所述数字值与第一阈值进行比较并且将所述数字值中的大于所述第一阈值的数字值作为误差丢弃的误差判定处理,

其中所述控制电路对等于或小于所述第一阈值的所述数字值进行求和,并输出所得到的和;或者

所述控制电路在对通过对等于或小于所述第一阈值的所述数字值进行求和而获得的和进行与作为误差丢弃的像素的数字值相对应的校正之后,输出所述和。

2.根据权利要求1所述的光学脉冲检测装置,

其中所述控制电路还进行将所述数字值与不同于所述第一阈值的第二阈值进行比较并且将所述数字值中的小于所述第二阈值的数字值作为无信号丢弃的误差判定处理。

3.根据权利要求1或2所述的光学脉冲检测装置,

其中所述控制电路针对以包括多个像素的像素组为单位的所述数字值进行所述误差判定处理。

4.根据权利要求1或2所述的光学脉冲检测装置,

其中所述像素包括:

电荷累积部,其累积由光电转换元件光电转换的电荷;

复位晶体管,其使所述电荷累积部中的电荷复位;和

输出晶体管,其将所述电荷累积部中的电荷输出为所述输出信号。

5.根据权利要求4所述的光学脉冲检测装置,

其中所述像素还包括

第二复位晶体管,其与所述光电转换元件直接连接并使所述光电转换元件的电荷复位。

6.根据权利要求5所述的光学脉冲检测装置,

其中所述像素包括多个所述第二复位晶体管。

7.根据权利要求1或2所述的光学脉冲检测装置,

其中所述像素阵列部同时对全部像素执行曝光的开始和结束。

8.一种光学脉冲检测装置中的光学脉冲检测方法,所述光学脉冲检测装置包括:像素阵列部,其中多个像素以二维格子状排列;AD转换器,其将所述像素阵列部的各像素的输出信号转换成具有大于1位的灰度的数字值;和控制电路,其进行将所述数字值与预定阈值进行比较并且将所述数字值中的大于所述阈值的数字值作为误差丢弃的误差判定处理,所述方法包括:

将所述像素阵列部的各像素的输出信号转换成具有大于1位的灰度的数字值;

进行将所述数字值与所述预定阈值进行比较并且将所述数字值中的大于所述阈值的数字值作为误差丢弃的误差判定处理;以及

对等于或小于所述阈值的所述数字值进行求和,并输出所得到的和;或者

在对通过对等于或小于所述阈值的所述数字值进行求和而获得的和进行与作为误差丢弃的像素的数字值相对应的校正之后,输出所述和。

9.一种辐射计数装置,包括:

根据权利要求1所述的光学脉冲检测装置;和

闪烁体,

其中所述光学脉冲检测装置检测当辐射入射到所述闪烁体时发光的发光脉冲。

10.根据权利要求9所述的辐射计数装置,还包括:

数据处理部,其从由所述光学脉冲检测装置检测到的所述发光脉冲的次数来计算发光脉冲的计数率,并且基于所计算的所述发光脉冲的计数率来控制所述像素的累积时间。

11.根据权利要求10所述的辐射计数装置,

其中在判定所计算的所述发光脉冲的计数率大于限定范围的情况下,所述数据处理部将采样率改变为其中所述像素的累积时间与当前时间相比更短的采样率。

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