[发明专利]确定煅烧和助熔煅烧硅藻土产品的矿物学特征的方法有效

专利信息
申请号: 201680060853.1 申请日: 2016-06-16
公开(公告)号: CN108430616B 公开(公告)日: 2021-02-09
发明(设计)人: 皮特·E·伦兹;斯科特·K·帕姆;乔治·A·尼亚美凯;布拉德利·S·汉弗莱斯;王群 申请(专利权)人: EP矿产有限公司
主分类号: B01J6/00 分类号: B01J6/00;B01J20/14;C04B14/08;G01N23/20
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 刘培培;黄爱娇
地址: 美国内*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 确定 煅烧 硅藻土 产品 矿物学 特征 方法
【权利要求书】:

1.一种确定包含硅藻土的产品的蛋白石-C含量和方石英含量的方法,其特征在于,

所述方法包括:

进行热处理以确定所述产品的样品的代表性第一部分的烧失量;

鉴定和量化存在于第一衍射图谱中的第一衍射图谱主峰和第一衍射图谱次强峰,所述第一衍射图谱由所述样品的代表性第二部分的大量粉末X射线衍射得到;以及

使用已知的方石英标准样品来确定存在于所述第一衍射图谱中的第一衍射图谱主峰和第一衍射图谱次强峰是否表明产品中存在蛋白石-C含量或方石英含量。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述进行热处理包括在980℃至1200℃下加热所述代表性第一部分至少1小时之后测定所述烧失量,所述方法进一步包括:

对所述代表性第二部分进行大量粉末X射线衍射以产生第一衍射图谱。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述鉴定和量化包括:检测所述第一衍射图谱的峰偏移、FWHM和第一衍射图谱次强峰的存在,以及

所述使用包括:

用NIST方英石标准参考物质添加到所述样品的代表性第三部分;

对添加的所述代表性第三部分进行大量粉末X射线衍射以产生第二衍射图谱;

检测所述第二衍射图谱的峰偏移、FWHM和第二衍射图谱次强峰的存在;

将所述第二衍射图谱与所述第一衍射图谱进行比较。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,在进行大量粉末X射线衍射之前,研磨所述代表性的第一部分、第二部分或第三部分中的至少一个。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,进一步包括:基于所述第一衍射图谱的分析来确定所述代表性第二部分中的石英或鳞石英含量。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,进一步包括:

量化所述产品的所述蛋白石-C含量;以及

确定所述产品中的结晶二氧化硅含量的总重量百分比,其中量化蛋白石-C含量的结果是从所述产品中的结晶二氧化硅含量的总重量百分比中排除的。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述进行热处理包括:加热所述代表性第一部分直到产生无水干燥产品,然后测定所述代表性第一部分的烧失量,其中,所述鉴定和量化包括检测所述第一衍射图谱的第一衍射图谱主峰位置、强度、第一衍射图谱主峰FWHM和第一衍射图谱次强峰的存在,所述方法进一步包括:

对所述代表性第二部分进行大量粉末X射线衍射以产生第一衍射图谱,其中所述代表性第二部分被精细研磨。

8.权利要求7的方法,其特征在于,所述使用进一步包括:

用NIST方英石标准参考物质添加到所述样品的代表性第三部分,其中所述代表性第三部分被精细研磨;

对添加的所述代表性第三部分进行大量粉末X射线衍射以产生第二衍射图谱;

检测所述第二衍射图谱的第二衍射图谱主峰位置、强度、第二衍射图谱主峰FWHM和的第二衍射图谱主峰次强峰的存在;

将所述第二衍射图谱与所述第一衍射图谱进行比较以确定存在的二氧化硅相是否为产品中的蛋白石-C或方石英。

9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述代表性第一部分的加热至少为1小时或在980℃以上。

10.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,进一步包括:

如果所述使用的结果表明产品中存在蛋白石-C,则通过加热所述样品的代表性第四部分直到所述代表性第四部分完全脱水来量化所述产品的蛋白石-C含量;

对所述代表性第四部分进行大量粉末X射线衍射以产生第三衍射图谱;以及

量化由所述第三衍射图谱表明的方英石以估算蛋白石-C含量,其中,在加热之前没有额外的助溶剂被添加到所述代表性第四部分中,并且加热处于1440℃以下的温度。

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