[发明专利]用于直接转换x射线检测器的极化校正有效

专利信息
申请号: 201680061282.3 申请日: 2016-10-11
公开(公告)号: CN108139494B 公开(公告)日: 2022-07-26
发明(设计)人: R·斯特德曼布克;E·罗塞尔;H·德尔 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: G01T1/24 分类号: G01T1/24
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 郑立柱
地址: 荷兰艾恩*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 直接 转换 射线 检测器 极化 校正
【权利要求书】:

1.一种用于生成对象的x射线图像的x射线设备(1),包括光子计数辐射检测器(3)和x射线辐射源(2),所述辐射检测器(3)被配置为将由所述x射线辐射源(2)发射并且已经横贯所述对象的x射线光子转换成与在所述图像的采集期间的x射线光子事件对应的电脉冲信号,所述设备还包括:

另一辐射源(11),所述另一辐射源(11)被配置为将所述辐射检测器暴露于第一辐射脉冲,并且在所述x射线图像的所述采集期间,所述另一辐射源(11)被配置为将所述辐射检测器暴露于第二辐射脉冲,所述第一辐射脉冲和所述第二辐射脉冲根据所述另一辐射源(11)的相同配置被发射,

检测电路,被配置为检测所述辐射检测器(3)由于所述辐射检测器(3)暴露于所述第一辐射脉冲而生成的第一电脉冲信号,并且被配置为检测所述辐射检测器(3)由于所述辐射检测器(3)暴露于所述第二辐射脉冲而生成的第二电脉冲信号,

其中,通过将所述辐射检测器暴露于所述第一辐射脉冲和所述第二辐射脉冲中的每个辐射脉冲,x射线光子事件被生成或模拟,使得所述第一电脉冲信号和所述第二电脉冲信号中的每个电脉冲信号与由所述辐射检测器响应于具有某个能量的入射x射线光子而生成的电脉冲信号对应,

其中,所述x射线设备(1)被配置为比较所述第一电脉冲信号和所述第二电脉冲信号的幅度,并且基于比较的结果生成所述x射线图像。

2.根据权利要求1所述的x射线设备(1),其中所述另一辐射源(11)是可控制的,以在所述图像的所述采集开始之前或在所述图像的所述采集开始时将所述辐射检测器(3)暴露于所述第一辐射脉冲。

3.根据权利要求1所述的x射线设备(1),其中所述检测电路包括峰值和保留电路(210),用于确定所述第二电脉冲信号的所述幅度。

4.根据权利要求1所述的x射线设备(1),其中所述另一辐射源(11)的所述配置是可选择的,使得所述第一电脉冲信号和所述第二电脉冲信号的幅度高于所述辐射检测器(3)响应于暴露于x射线辐射而生成的电脉冲信号的幅度,并且其中所述检测电路被配置为将由所述辐射检测器生成的在采集的时间段期间具有最高幅度的电脉冲信号标识为所述第二电脉冲信号。

5.根据权利要求1所述的x射线设备(1),其中所述另一辐射源(11)是可控制的,以在一个时间段内将所述辐射检测器(3)暴露于所述第一辐射脉冲和/或所述第二辐射脉冲,在所述时间段内,所述x射线辐射源(2)对x射线辐射的所述发射被中断。

6.根据权利要求5所述的x射线设备(1),其中所述检测电路包括峰值和保留电路(210),用于确定所述第二电脉冲信号的所述幅度,并且其中所述峰值和保留电路(210)是可控制的,使得只有当所述x射线辐射源(2)不发射x射线辐射时,所述峰值和保留电路(210)才被激活。

7.根据权利要求1所述的x射线设备(1),其中

所述另一辐射源(11)被配置为将所述辐射检测器(3)暴露于至少两个第一辐射脉冲和至少两个第二辐射脉冲,所述至少两个第一辐射脉冲根据所述另一辐射源(11)的不同配置被发射,每个第二辐射脉冲根据所述另一辐射源(11)的所述不同配置中的一个配置被发射,

对于根据所述另一辐射源(11)的所述不同配置中的一个配置发射的每个第二辐射脉冲,所述x射线设备被配置为对所述辐射检测器(3)响应于暴露于相应的所述第二辐射脉冲而生成的所述电脉冲信号的所述幅度和所述辐射检测器(3)响应于暴露于所述第一辐射脉冲而生成的所述电脉冲信号的所述幅度进行比较,所述第一辐射脉冲根据所述另一辐射源(11)的与相应的所述第二辐射脉冲相同的配置被发射,以及

所述x射线设备(1)还被配置为基于所述比较的所述结果来生成所述x射线图像。

8.根据权利要求7所述的x射线设备(1),其中所述另一辐射源(11)是可控制的,以在一个时间段内相继地发射至少两个第二辐射脉冲,在所述时间段内,所述x射线辐射源(2)对x射线辐射的所述发射被中断。

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