[发明专利]测量装置有效
申请号: | 201680062433.7 | 申请日: | 2016-03-03 |
公开(公告)号: | CN108351205B | 公开(公告)日: | 2020-12-01 |
发明(设计)人: | 竹村将太;相泽健治 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝基础设施系统株式会社 |
主分类号: | G01B21/08 | 分类号: | G01B21/08 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 戚宏梅 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 装置 | ||
根据实施方式,测量装置具有基部、一对测距仪及辅助部件。基部具有下框、与所述下框对置地设置的上框、以及将所述下框及所述上框连结的支柱。一对测距仪分别设置于所述下框及所述上框,以能够使测量对象穿过的间隙相互对置地配置。辅助部件设置于所述基部,由具有与所述支柱不同的线性膨胀系数的材料构成,在所述一对测距仪对置的方向的长度为使该辅助部件成为与因热而在所述一对测距仪对置的方向上膨胀的所述支柱的膨胀量相同的膨胀量的长度。
技术领域
本申请的实施方式涉及以非接触方式对测量对象的厚度进行测量的测量装置。
背景技术
已知有如下的测量装置,其使测量对象在对置地设置有一对测距仪的框状的框架中穿过。这样的测量装置通过从预先测量到的一对测距仪之间的距离中减去测量出的从各测距仪至测量对象的距离,由此导出对象物的厚度。
在该测量装置中使用的框架具有固定一对测距仪的上框及下框、以及将该上框及下框连接的支柱。支柱设置于上框及下框的一端或者两端。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2004-174010号公报
发明内容
发明所要解决的课题
本申请所要解决的课题在于提供即使支柱的长度因热而变动也能够以高精度测量对象物的厚度的测量装置。
用于解决课题的手段
根据实施方式,测量装置具有基部、一对测距仪及辅助部件。基部具有下框、与所述下框对置地设置的上框、以及将所述下框及所述上框连结的支柱。一对测距仪分别设置于所述下框及所述上框,以能够使测量对象穿过的间隙相互对置地配置。辅助部件设置于所述基部,由具有与所述支柱不同的线性膨胀系数的材料构成,该辅助部件在所述一对测距仪对置的方向上具有使得因热而在所述一对测距仪对置的方向上膨胀的膨胀量与所述支柱的膨胀量相同的长度。
附图说明
图1为表示第1实施方式的测量装置的构成的说明图。
图2为表示第2实施方式的测量装置的构成的说明图。
图3为表示第3实施方式的测量装置的构成的说明图。
图4为表示第4实施方式的测量装置的构成的说明图。
图5为表示第5实施方式的测量装置的构成的说明图。
图6为表示第6实施方式的测量装置的构成的说明图。
具体实施方式
(第1实施方式)
以下,使用图1说明第1实施方式的测量装置1。
图1为表示第1实施方式的测量装置1的构成的说明图。
测量装置1具备供测量对象100穿过的框状的基部11;设置于基部11、相互对置地配置的一对测距仪12;设置于基部11与一方的测距仪12之间的辅助部件13;对一对测距仪12的间隙的距离进行计量的校正装置14;以及经由信号线99分别与一对测距仪12及校正装置14连接的控制部15。
这里,测量对象100例如是在一方向上较长的板状的金属板等。测量对象100例如在进行了热处理后,由测量装置1测量厚度。
基部11具备下框21、设置于下框21的一个侧面或者一对侧面的一个或者一对支柱22、以及设置于支柱22上的上框23。基部11构成为在正视时呈方形框状或者C字状。在本实施方式中,采用基部11具有一对支柱22的方形框状的结构于以下进行说明。
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