[发明专利]放射线成像系统、信息处理装置和方法、以及存储介质

说明书

为了提供一种在不通过改变放射线能量来执行成像的情况下获得被检体的放射线图像中包含的用于区分两种物质的信息的技术，放射线成像系统包括：检测器，包括多个像素，所述多个像素获得与透射通过被检体的入射放射线对应的像素值；以及信息处理单元，配置为通过如下来执行估计关于包含在被检体中的物质的厚度和密度的信息的处理：使用所述多个像素中的一个任意像素的像素值和被根据所述任意像素的像素值计算出的所述任意像素的放射线量子的能量的平均值来执行计算。

技术领域

本发明涉及一种放射线成像系统、处理放射线图像的信息处理装置、用于处理放射线图像的图像处理方法和程序。

背景技术

作为用于使用放射线(X射线)的医学图像诊断和非破坏性检查的成像装置，已经使用了使用由半导体材料形成的平板检测器(FPD)的放射线成像装置。例如，这样的放射线成像装置可以用作在医学图像诊断中捕获静止图像和运动图像的数字成像装置。

FPD的例子包括积分传感器和光子计数传感器。积分传感器测量由入射放射线产生的电荷的总量。光子计数传感器区分入射放射线的能量(波长)并计数针对各个能级检测到放射线的次数。具体而言，由于光子计数传感器具有能量分辨能力，因此期望将光子计数传感器应用于在利用单能放射线虚拟地执行成像的情况下物质的辨别和图像的产生以及骨密度的测量。然而，由于入射的放射线量子数量大，因此需要高的操作速度来单独计数放射线量子。因此，难以在大面积的FPD中实现光子计数传感器。

因此，专利文献1提出了一种放射线成像装置，其通过使用每个预定区域的平均图像密度信息和图像密度的分布信息估计放射线量子的数量和能量的平均值来实现能量分辨能力。具体而言，专利文献1公开了一种信息处理方法，用于使用每个预定区域的平均图像浓度信息和图像浓度的分布信息估计放射线量子的数量和能量的平均值，并且获得两种类型的图像信息，即，放射线量子数和放射线量子能量的平均值。当采用专利文献1中公开的方法时，与光子计数传感器相比，即使在低操作速度的情况下也可以实现具有能量分辨能力的传感器。

另一方面，专利文献2公开了能量减法方法的技术。当采用能量减法方法时，通过照射相应的两种能量来获得两个图像，并且对经过了期望计算的两个图像执行差分处理，以使得以区分的方式产生具有不同衰减系数的两种物质的图像。能量减法方法利用这样的现象：其中不同物质具有不同的衰减系数，该衰减系数表示在放射线通过物质时放射线的衰减程度，并且衰减系数取决于放射线的能量。此外，专利文献2还公开了作为利用相同现象测量骨密度的技术的双能量X射线吸收测量法(DEXA法)的技术。然而，在专利文献2中公开的能量减法方法和DEXA方法中，使用两种能量执行放射线成像两次。因此，产生了在切换能量的同时由于被检体的移动而产生伪影，并且需要高速切换放射线能量的问题。就这些问题而言，专利文献1中公开的处理方法是更加有利的，因为物质可以通过使用一种能量的一次放射线成像而被彼此区分。

然而，专利文献1没有公开用于使用两种类型的图像信息来获得用于区分构成放射线图像的两种物质的信息的方法，所述两种类型的图像信息即为所获得的放射线量子数和所获得的放射线量子的能量的平均值。

引用列表

专利文献

专利文献1：日本专利公开第2009-285356号

专利文献2：日本专利公开第2013-236962号

发明内容

解决问题的方案