[发明专利]喷嘴和包括该喷嘴的基板处理设备以及基板处理方法在审
申请号: | 201680063511.5 | 申请日: | 2016-10-20 |
公开(公告)号: | CN108352296A | 公开(公告)日: | 2018-07-31 |
发明(设计)人: | 李秀燕;金昊永;金承镐;李在洪;金俊吾;金袗圭;姜秉万;郑仁一 | 申请(专利权)人: | 细美事有限公司;首尔大学校产学协力团 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/67;H01L21/683 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 韩国忠淸南道天安*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 喷嘴 收缩 基板处理设备 清洗介质 喷射孔 支撑单元 孔口 腔室 处理基板 单一气体 基板处理 基板供应 喷射清洗 支撑基板 减小 支撑 | ||
1.一种基板处理设备,包括:
腔室,所述腔室配置为提供用于处理基板的空间;
支撑单元,所述支撑单元设置在所述腔室中并被配置成支撑所述基板;和
喷嘴,所述喷嘴配置为向由所述支撑单元支撑的所述基板供应清洗介质,
其中,所述喷嘴包括:
收缩部,所述收缩部具有入口,通过所述入口引入所述清洗介质,并且所述收缩部的截面面积随着远离所述入口而减小;
扩张部,所述扩张部具有喷射孔,通过所述喷射孔喷射所述清洗介质,并且所述扩张部的截面面积随着靠近所述喷射孔而增加;和
孔口,所述孔口位于所述收缩部和所述扩张部之间,以及
其中,引入到所述收缩部中的所述清洗介质是单一气体。
2.根据权利要求1所述的基板处理设备,其中,所述喷射孔的面积是所述孔口的通道的截面面积的4至14倍。
3.根据权利要求1所述的基板处理设备,其中,所述喷射孔的面积是所述孔口的通道的截面面积的6至10倍。
4.根据权利要求1所述的基板处理设备,其中,所述孔口的直径是0.24mm至0.6mm,以及所述喷射孔的直径是0.9mm至3.0mm。
5.根据权利要求1所述的基板处理设备,其中,所述孔口的直径是0.3mm至0.5mm,以及所述喷射孔的直径是0.9mm至1.1mm。
6.根据权利要求1所述的基板处理设备,其中,所述孔口的面积是0.05mm2至0.28mm2,以及所述喷射孔的面积是0.7mm2至7mm2。
7.根据权利要求1所述的基板处理设备,其中,所述孔口的面积是0.10mm2至0.14mm2,以及所述喷射孔的面积是0.7mm2至1.4mm2。
8.根据权利要求1所述的基板处理设备,其中,所述喷射孔与所述基板的表面之间的垂直距离是2cm至5cm。
9.根据权利要求1所述的基板处理设备,其中,所述喷射孔与所述基板的表面之间的垂直距离是2.5cm至4cm。
10.根据权利要求1所述的基板处理设备,其中,所述喷射孔相对于所述基板的表面倾斜。
11.根据权利要求10所述的基板处理设备,其中,所述喷射孔与所述基板的表面之间的倾斜角度是25度至90度。
12.根据权利要求10所述的基板处理设备,其中,所述喷射孔与所述基板的表面之间的倾斜角度是25度至35度。
13.根据权利要求1至12中任一项所述的基板支撑设备,其中,所述清洗介质是二氧化碳。
14.根据权利要求13所述的基板处理设备,其中,所述腔室的内部压力是0.01bar至1bar,以及引入到所述收缩部中的所述清洗介质的供应压力是20bar至60bar。
15.根据权利要求13所述的基板处理设备,其中,所述腔室的内部压力是0.75bar至1.25bar,以及引入到所述收缩部中的所述清洗介质的供应压力是45bar至55bar。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造