[发明专利]样品处理装置及用于样品处理的方法

权利要求书

1.一种样品处理装置（128），包括至少一个磁性定位装置（152），所述至少一个磁性定位装置（152）配置成用于将运载器（114）磁性地保持在所述样品处理装置（128）中，所述运载器（114）配置成用于运载至少一个器皿（118），其中，所述样品处理装置（128）还包括至少两个转子（168、170），所述至少两个转子（168、170）用于使所述运载器（114）在所述样品处理装置（128）内旋转，其中，所述磁性定位装置（152）配置成通过磁力将所述运载器（114）拉拽到所述转子（168、170）上，其中，所述磁性定位装置（152）至少部分地定位在至少两个转子（168、170）之间。

2.根据权利要求1所述的样品处理装置（128），其中，所述至少两个转子（168、170）由至少一个马达（182）驱动。

3.根据权利要求1或2所述的样品处理装置（128），还包括用于保持所述运载器（114）的至少一个保持装置（134）。

4.根据权利要求1或2所述的样品处理装置（128），其中，所述磁性定位装置（152）包括至少一个电磁体（154）。

5.根据权利要求1或2所述的样品处理装置（128），还包括至少一个邻接表面（160），运载器（114）可接合到所述至少一个邻接表面（160）中，以使得所述邻接表面（160）部分地包围所述运载器（114）并且定位所述运载器（114）。

6.一种样品识别装置（110），包括：

根据权利要求1或2所述的至少一个样品处理装置（128）；以及

至少一个读取器（130），所述至少一个读取器（130）用于读取附接至由所述运载器（114）运载的所述器皿（118）的至少一个标识符（132）。

7.一种用于样品处理的系统（112），包括权利要求1或2所述的至少一个样品处理装置（128），所述系统还包括用于运载至少一个器皿（118）的至少一个运载器（114）。

8.根据权利要求7所述的系统（112），其中，所述样品处理装置（128）包括至少一个邻接表面（160），所述至少一个邻接表面（160）配置成与所述运载器（114）的表面接合以使所述运载器（114）相对于所述样品处理装置（128）的位置来定位。

9.根据权利要求8所述的系统（112），还包括至少一个运输装置（124），所述至少一个运输装置（124）具有用于所述运载器（114）的运输表面（214）以及绕线管（212），其中，由所述邻接表面（160）限定的在所述样品处理装置（128）处的用于所述运载器（114）的移交位置被放置在两个绕线管（212）之间。

10.一种用于识别多个样品的至少一种性质的诊断装置（126），所述诊断装置（126）包括根据权利要求9所述的至少一个系统（112），所述诊断装置（126）还包括至少一个分析装置，所述至少一个分析装置配置成用于利用所述样品来执行至少一次分析操作。

11.一种用于样品处理的方法，包括：

通过使用至少一个磁性定位装置（152）来将运载器（114）磁性地保持在根据权利要求1或2所述的样品处理装置（128）中，所述运载器（114）运载具有设置在其内的样品的至少一个器皿（118），以及

通过使用所述磁性定位装置（152）产生的磁力将所述运载器（114）在所述样品处理装置（128）中拉拽到转子（168、170）上，所述运载器（114）配置成用于运载至少一个器皿（118）。

12.根据权利要求11所述的方法，其中，所述方法还包括如下步骤：

通过使用至少一个读取器（130）来读取附接至所述运载器（114）所运载的器皿（118）的至少一个标识符（132）。

13.根据权利要求12所述的方法，其中，所述方法还包括如下步骤：

通过使用至少两个转子（168、170）来使所述运载器（114）在所述样品处理装置（128）内旋转。