[发明专利]光场数据表示有效
申请号: | 201680067390.1 | 申请日: | 2016-09-16 |
公开(公告)号: | CN108292431B | 公开(公告)日: | 2022-08-02 |
发明(设计)人: | 瓦尔特·德拉季奇;纪尧姆·布瓦松;莫扎德·赛菲 | 申请(专利权)人: | 交互数字VC控股公司 |
主分类号: | G06T5/50 | 分类号: | G06T5/50 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 潘剑颖 |
地址: | 美国特*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 数据 表示 | ||
1.一种用于产生表示光场的数据的计算机实现的方法,所述方法包括:
获得相交数据,所述相交数据定义来自场景的光场射线与多个给定参考平面的相交,所述参考平面与所述场景中的不同深度相对应,每个相交数据集合与具有颜色值的光场射线相对应;
通过离散拉东变换确定参数空间中的表示所述相交数据的一个或多个数据超平面;
借助于参数方程在所述数据超平面上或附近扫描数据,以采样表示所述光场射线的数据;
提供表示所述光场的数据格式,所述数据格式包括定义所述参数空间中的所述至少一个数据超平面的至少一个数据参数、以及与每个光场射线相关联的所述颜色值。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,在所述参数空间中应用两个正交离散拉东变换,以获得所述一个或多个超平面。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述一个或多个数据超平面是根据定义相机获取参数的数据而确定的。
4.根据权利要求3所述的方法,其中,定义所述至少一个数据超平面的数据参数包括表示以下至少一项的数据:
第一参考平面的相交数据的最小值;
所述第一参考平面的相交数据的最大值;
第二参考平面的相交数据的最小值;
所述第二参考平面的相交数据的最大值;
定义所述参数空间的采样单元的数量;
所述第一参考平面的位置;以及
所述第二参考平面的位置。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,每个数据超平面由所述参数空间的多个单元定义,所述多个单元包括表示线与轴相交而形成的截距的至少一个第一单元、以及根据其来确定线的斜率的至少一个第二单元。
6.根据权利要求5所述的方法,其中,每个数字超平面是通过应用Bresenham算法来产生的。
7.根据权利要求6所述的方法,其中,射线束被表示为具有相同斜率和不同轴截距点的多个超平面。
8.根据权利要求7所述的方法,其中,表示所述获取的光场数据的数据包括表示所述射线束的粗细的数据,所述射线束的粗细基于所述射线束中的线的轴截距数据的上边界和下边界。
9.一种用于根据权利要求1所述的方法提供的光场数据来产生光场射线的方法,包括:
逐单元地读取定义数据参数的元数据并且读取颜色数据,其中所述数据参数定义至少一个超平面。
10.一种用于为捕获的光场数据提供元数据的设备,
所述设备包括:
光场数据获取模块,用于获取由光场相机捕获的光场数据;以及
光场数据产生模块,被配置为:
获得相交数据,所述相交数据定义来自场景的光场射线与多个给定参考平面的相交,所述参考平面与所述场景中的不同深度相对应,每个相交数据集合与具有颜色值的光场射线相对应;
通过离散拉东变换确定参数空间中的表示相交数据的一个或多个数据超平面;
借助于参数方程在所述数据超平面上或附近扫描数据,以采样表示所述光场射线的数据;
提供表示所述光场的数据格式,所述数据格式包括定义所述参数空间中的所述超平面的至少一个数据参数、以及与每个产生的光场射线相关联的所述颜色值。
11.一种光场成像设备,包括:
微透镜阵列,按照规则点阵结构布置;
光电传感器,被配置为捕获从所述微透镜阵列投影到所述光电传感器上的光,所述光电传感器包括像素集合,每个像素集合与所述微透镜阵列中的相应微透镜光学相关联;以及
根据权利要求10所述的用于提供元数据的设备。
12.一种用于根据使用根据权利要求1所述的方法而获得的光场数据来呈现图像的设备。
13.一种计算机设备,包括:
存储器,其上存储有指令,以及
处理器,被配置为执行所述指令以实现根据权利要求1所述的方法。
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