[发明专利]探测值确定系统

说明书

本发明涉及一种探测值确定系统，特别是用于光子计数CT扫描仪的探测值确定系统，其包括探测脉冲提供单元，所述探测脉冲提供单元用于提供针对探测像素17的阵列的探测脉冲，所述探测像素的阵列被提供有抗电荷共享网格15，所述抗电荷共享网格用于抑制所述探测像素的不同团簇14之间的电荷共享，其中，所述探测脉冲指示入射在所述探测像素上的光子的能量。基于所提供的探测脉冲来确定经电荷共享校正的探测值，其中，为了确定针对团簇的探测像素的经电荷共享校正的探测值，仅考虑同一团簇的探测像素。这允许相对高的探测量子效率，其中，用于提供电荷共享校正的技术努力可以相对较低。

技术领域

本发明涉及一种用于确定要由成像系统用于生成对象的图像的电荷共享校正的探测值的探测值确定系统和方法。本发明还涉及用于控制探测值确定系统的成像系统和计算机程序。

背景技术

例如，在光子计数断层摄影系统中使用探测值确定系统。在光子计数计算机断层摄影系统中使用的探测值确定系统的光谱性能通常受到所谓的电荷共享效应的限制，其中，由单个光子引起的电荷在探测值确定系统的相邻探测像素之间共享，伴随着原始光子的能量信息的完全损失。例如，所述探测值确定系统可以包括用于将光子转换成电脉冲的转换材料，其中，转换材料布置在阴极和由阳极盘阵列形成的像素化阳极之间。如果光子入射到两个相邻阳极盘之间的区域上，则光子引起两个探测脉冲，因为光子产生的电荷在这两个相邻的阳极盘之间共享，并且总电荷的随机分布主要取决于引起电荷的光电事件的精确位置。当光电事件发生在属于单个阳极盘的转换材料内的敏感体积内时，整个电荷在该阳极盘处被收集，并且没有显著的光谱性能劣化。但是，如果不是这种情况，则发生电荷共享，导致确定的探测值的质量下降。

为了减小电荷共享效应，可以提供防散射风格，其被安装为使得阳极盘之间的区域被覆盖。探测表面的一部分的这种覆盖具有这样的缺点，即其导致探测量子效率(DQE)的显著损失，使得确定的探测值的质量仍然降低。

发明内容

本发明的目的是提供一种用于提供具有改善的质量的探测值的探测值确定系统和方法。本发明的另一个目的是提供一种用于生成对象的图像的成像系统，所述成像系统包括探测值确定系统和用于控制所述探测值确定系统的计算机程序。

在本发明的第一方面中，提出了一种探测值确定系统，其中，所述探测值确定系统包括：

-探测脉冲提供单元，其用于为探测像素的阵列提供探测脉冲，所述探测像素的阵列被提供有抗电荷共享网格，所述抗电荷共享网格用于抑制所述阵列的探测像素的不同团簇之间的电荷共享，其中，所述探测脉冲指示入射在所述探测像素上的光子的能量，

-探测值确定单元，其用于基于所提供的探测脉冲来确定经电荷共享校正的探测值，其中，每个经电荷共享校正的探测值对应于相应的探测像素并且已经针对相邻探测像素之间的电荷共享进行了校正，其中，所述探测值确定单元适于：为确定针对团簇中的探测像素的经电荷共享校正的探测值，仅考虑所述同一团簇中的探测像素。

由于所述抗电荷共享网格不会抑制所有探测像素之间的电荷共享，而是仅抑制探测像素的不同团簇之间的电荷共享，因此与使用覆盖易于电荷共享的相邻探测像素之间的所有区域的抗电荷共享网格相比，由抗电荷共享网格覆盖的探测表面的面积相对较小。DQE因此相对较高。通过探测值确定单元来校正剩余的团簇内电荷共享，即，同一团簇的相邻探测像素之间的剩余的电荷共享，其中，由于这种电荷共享校正仅考虑同一团簇的探测像素，因此提供这种电荷共享校正的技术努力可能相对较低。因此，探测值确定系统能够以相对较低的技术努力来提供具有改善的质量的经电荷共享校正的探测值。