[发明专利]激光容错和自校准系统有效

专利信息
申请号: 201680067601.1 申请日: 2016-11-18
公开(公告)号: CN108370129B 公开(公告)日: 2020-09-18
发明(设计)人: R·J·福利 申请(专利权)人: 恩耐公司
主分类号: H01S3/102 分类号: H01S3/102
代理公司: 北京市君合律师事务所 11517 代理人: 毛健;杜小锋
地址: 美国华*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 激光 容错 校准 系统
【权利要求书】:

1.一种用于激光二极管系统的方法,其特征在于,所述方法包括:

在计算设备处检测所述激光二极管系统中的失效的激光二极管元件或失效的激光泵,所述激光二极管系统包括多个激光二极管元件,所述多个激光二极管元件设置在多个激光泵中;

在所述检测操作后,使用所述计算设备接收经编码的密钥;

至少部分地基于所述经编码的密钥来使用所述计算设备禁用所述激光二极管系统中的所述失效的激光二极管元件或所述失效的激光泵;以及

在禁用所述失效的激光二极管元件或所述失效的激光泵后,使用所述计算设备重新校准所述激光二极管系统以降低与激光源信号对应的校准阈值。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

使用所述计算设备认证所述经编码的密钥;以及

至少部分地基于所述认证操作来使用所述计算设备禁用所述激光二极管系统中的所述失效的激光二极管元件或所述失效的激光泵。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

使用所述计算设备接收请求,以禁用所述激光二极管系统中的所述失效的激光二极管元件或所述失效的激光泵;以及

至少部分地基于所述请求来禁用所述激光二极管系统中的所述失效的激光二极管元件或所述失效的激光泵。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

在所述计算设备处接收所述请求中的所述失效的激光二极管元件或所述失效的激光泵的标识。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述校准阈值是原始校准阈值,并且所述激光二极管系统的所述重新校准将所述原始校准阈值与所述激光二极管系统中的所述失效的激光二极管元件或所述失效的激光泵成比例地降低。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在禁用所述失效的激光二极管元件或所述失效的激光泵后,使用所述计算设备重新校准所述激光二极管系统,用以解决所述失效的激光二极管元件或所述失效的激光泵。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

至少部分地基于认证所述经编码的密钥失败来拒绝对所述激光二极管系统的访问。

8.一种激光二极管系统,其特征在于,所述激光二极管系统包括:

多个激光泵,所述多个激光泵中的每个激光泵包括多个激光二极管驱动器和对应的多个激光二极管元件,其中,所述多个激光二极管驱动器中的每个激光二极管驱动器被电耦接以对所述多个激光二极管元件中的至少两个激光二极管元件供电;

组合器,所述组合器被电耦接至所述多个激光二极管元件,以组合所述多个激光泵中的每个激光泵的输出来产生组合输出光;以及

控制器,所述控制器用于:

识别失效的激光泵或失效的激光二极管元件;

接收经编码的密钥以获得对所述控制器的访问;

至少部分地基于认证所述经编码的密钥的操作来禁用所述失效的激光泵或所述失效的激光二极管元件;以及

在禁用所述失效的激光泵或所述失效的激光二极管元件后,使用计算设备重新校准所述激光二极管系统以降低与激光源信号对应的校准阈值。

9.根据权利要求8所述的激光二极管系统,其特征在于,所述校准阈值是原始校准阈值,并且所述激光二极管系统的所述重新校准将所述原始校准阈值与所述激光二极管系统中的所述失效的激光泵或所述失效的激光二极管元件成比例地降低。

10.根据权利要求9所述的激光二极管系统,其特征在于,所述控制器还用于至少部分地基于所述失效的激光泵或所述失效的激光二极管元件来重新校准所述组合器。

11.根据权利要求8所述的激光二极管系统,其特征在于,所述控制器还用于通过与所述失效的激光二极管驱动器的数量或所述失效的激光二极管元件的数量成比例地减少功率输出来重新校准所述激光二极管系统。

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