[发明专利]测量传感器用封装体以及测量传感器在审

专利信息
申请号: 201680067923.6 申请日: 2016-11-10
公开(公告)号: CN108351366A 公开(公告)日: 2018-07-31
发明(设计)人: 大出泰;伊藤宏树;杉本好正;新纳范高;松永翔吾;林拓也 申请(专利权)人: 京瓷株式会社
主分类号: G01P5/26 分类号: G01P5/26;A61B5/02;A61B5/0285;G01P5/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 朴英淑
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 底面 测量传感器 台阶面 封装体 连接焊盘 收容凹部 位置处 高精度测量 发光元件 俯视观察 受光元件 噪声影响 配置
【权利要求书】:

1.一种测量传感器用封装体,包括:

基体,该基体层叠多个电介质层而成,且是矩形板状,所述基体在第1面设置有容纳发光元件的第1收容凹部以及容纳受光元件的第2收容凹部,

所述第1收容凹部包括安装所述发光元件的第1底面,在所述第1收容凹部的内侧面设置具有在所述第1面的面方向上延伸的第1台阶面的第1台阶部,在该第1台阶面上配置与所述发光元件电连接的第1连接焊盘,

所述第2收容凹部包括安装所述受光元件的第2底面,在所述第2收容凹部的内侧面设置具有在所述第1面的面方向上延伸的第2台阶面的第2台阶部,在该第2台阶面上配置与所述受光元件电连接的第2连接焊盘,

俯视观察下,在将所述第1底面的中心和所述第2底面的中心连起来的方向上,所述第1台阶面位于比所述第1底面更靠外向侧的位置处,并且所述第2台阶面位于比所述第2底面更靠外向侧的位置处。

2.根据权利要求1所述的测量传感器用封装体,还包括:

盖体,覆盖所述第1收容凹部以及所述第2收容凹部,该盖体包含绝缘材料且是板状,使从容纳在所述第1收容凹部的所述发光元件射出的光透过,并使容纳在所述第2收容凹部的所述受光元件接受的光透过;和

接地导体层,配置于该盖体的与所述第1收容凹部以及所述第2收容凹部对置的一侧的主面,与接地电位连接,在该接地导体层设置有使从所述发光元件射出的光通过的第1开口以及使所述受光元件接受的光通过的第2开口。

3.根据权利要求1或2所述的测量传感器用封装体,其中,

在所述基体的厚度方向上,所述第1连接焊盘与所述接地导体层之间的距离小于所述第2连接焊盘与所述接地导体层之间的距离。

4.根据权利要求1~3中任一项所述的测量传感器用封装体,其中,

所述第1台阶面的面积小于所述第2台阶面的面积。

5.根据权利要求1~4中任一项所述的测量传感器用封装体,其中,

在俯视观察下,所述第2连接焊盘的面积大于所述第1连接焊盘的面积。

6.一种测量传感器,包括:

权利要求1~5中任一项所述的测量传感器用封装体;

容纳于所述第1收容凹部的发光元件;和

容纳于所述第2收容凹部的受光元件。

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