[发明专利]照明装置有效
申请号: | 201680068641.8 | 申请日: | 2016-11-24 |
公开(公告)号: | CN108293288B | 公开(公告)日: | 2020-01-10 |
发明(设计)人: | 出岛孚 | 申请(专利权)人: | 株式会社艾泰克系统 |
主分类号: | H05B33/08 | 分类号: | H05B33/08;H01L33/00 |
代理公司: | 11247 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 张谟煜;段承恩 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 恒流电路 输入端子 运算放大器 旁路电阻 照明装置 反馈线 电流检测电阻 电位 并联连接 基准电位 高电位 电阻 对向 | ||
该LED照明装置具备:LED单元(10),该LED单元(10)具有串联连接的多个LED或单一的LED;和恒流电路(20),该恒流电路(20)连接于LED单元(10)并对向LED单元(10)供给的电流进行控制,恒流电路(20)具有运算放大器(21),该运算放大器(21)具有供基准电位输入的第1输入端子(21a)和供比较电位输入的第2输入端子(21b),该照明装置还具备:旁路电阻(60),该旁路电阻(60)并联连接于LED单元(10);和反馈线(23),该反馈线(23)将恒流电路(20)用的电流检测电阻的高电位侧与第2输入端子(21b)之间连接并且具有预定的电阻值。
技术领域
本发明涉及使用恒流电路进行LED的调光的照明装置。
背景技术
作为这种光源装置,已知有一种具备多个LED串联连接了的LED单元、和对向LED单元供给的电流量进行控制的恒流电路的光源装置(例如,参照专利文献1。)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2010-212369号公报
发明内容
发明要解决的问题
近年来,由具有多个LED的照明装置对检查对象物进行照明,并且由相机等区域传感器、线状传感器对该照明位置进行拍摄,使用拍摄结果进行制造品的检查。另外,在进行制造品的检查时,不仅存在使照明装置的LED持续点亮的情况,也存在仅在制造品进入到传感器的视角时使LED点亮的情况。
在此,检查的高速化以及准确性的要求变得更高。为了满足该要求,需要提高能够由照明装置照射的光的强度,并且使由照明装置照射的光的强度与传感器的要求相匹配地准确地进行控制。在照射高强度的光的做法的情况下,若使LED持续点亮,则会对电力的消耗量、照明装置的发热等带来不理想的结果。
因此,需要仅在制造品进入到传感器的视角时使照明装置的LED点亮,最好LED的点亮时间尽可能短的情况不少。另外,期望的是,开始用于点亮LED的控制并立即获得所期望的光的强度,且期望的是,点亮LED的期间的光的强度也稳定。
另外,通过照明装置的开/关(ON/OFF)的高速化,从而能够不使用相机(传感器)的快门地将运动着的物体作为静止图像进行拍摄。这样的使用方法在相机的快门速度不足的情况下等是有用的,为了提高拍摄的图像的质量,重要的是获得照明装置的开/关的速度和所期望的光的强度。
在此,作为LED的主要的调光控制方式,已知有恒压控制和恒流控制。LED是根据所流的电流量而光量发生变化的元件,所以与恒压控制相比恒流控制更适合用于获得所期望的光的强度。作为恒流电路,已知有如下恒流电路,该恒流电路具有运算放大器、和在运算放大器的输出端子连接有栅端子的场效应晶体管(FET),在FET的源端子连接有电流检测电阻,在FET的漏端子连接有LED串联连接而成的LED单元。
运算放大器的反相输入端子连接于电流检测电阻的高电位侧,在运算放大器的非反相输入端子供基准电位(控制信号)输入。该恒流电路的运算放大器以使反相输入端子的电位追随于输入到非反相输入端子的基准电位的方式发挥功能。因此,在电流检测电阻流有与基准电位成比例的电流,与其大致相等的电流在LED单元流动。
这样,恒流控制能够将与施加于电流检测电阻的电压相应的电流向LED单元供给,所以在使LED以期望的光强度点亮方面比恒压控制优异。
在此,为了使LED为非点亮,将电流检测电阻的低电位端的电位、即接地电位向运算放大器的非反相输入端子输入时,电流检测电阻的高电位端的电位成为接地电位,施加于电流检测电阻的电压成为零,LED单元成为熄灭状态。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社艾泰克系统,未经株式会社艾泰克系统许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201680068641.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:照明装置控制开关和方法
- 下一篇:确定X射线系统的X射线管的状况