[发明专利]等离子体浸没式离子注入机的控制方法和偏压电源有效

专利信息
申请号: 201680071912.5 申请日: 2016-12-05
公开(公告)号: CN109075005B 公开(公告)日: 2020-09-25
发明(设计)人: F·托瑞格罗萨;L·洛克斯 申请(专利权)人: 离子射线服务公司
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32;C23C14/48;H01L21/223
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 郭思宇
地址: 法国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 等离子体 浸没 离子 注入 控制 方法 偏压 电源
【说明书】:

发明涉及一种以等离子体浸没式运行的注入机的控制方法,包括:‑注入阶段[1],在其间等离子体AP被激发,并且基底被负偏压S,‑中立化阶段[2],在其间等离子体AP被激发,并且基底被施加正偏压或零偏压S,‑抑制阶段[3],在其间等离子体AP被熄灭,‑基底处的带负电粒子的排出阶段[4],在其间等离子体AP被熄灭。该方法的特征在于这个排出阶段的持续时间大于5μs。所述发明还涉及注入机的偏压电源。

技术领域

本发明涉及一种以等离子体浸没式运行的离子注入机的控制方法。

背景技术

本发明的领域是以等离子体浸没模式工作的离子注入机的领域。因此,基底的离子注入在于将其浸入等离子体并将其以几十伏到几十千伏(通常小于100kV)的负电压偏压,以便能够建立将等离子体离子向基底加速以使它们被注入的电场。这样注入的原子被称为掺杂剂。

离子的穿透深度由其加速能量决定。它一方面取决于施加到基底的电压,另一方面取决于离子和基底各自的特性。注入原子的浓度取决于用每cm2离子数表示的剂量和注入深度。

由于与等离子体物理有关的原因,在施加电压后的毫微秒内,在基底周围形成离子鞘。负责将离子向基底加速的电势差在该鞘层的端子处被发现。

该鞘层根据时间的增长遵循Child-Langmuir等式:

其中:

jc:电流密度,

ε0:真空的介电常数,

e:离子电荷,

M:离子的质量,

V0:跨过鞘层的电势差,以及

S:鞘层的厚度。

通过规定电流密度等于每单位时间穿过鞘层边界的电荷,ds/dt表示该边界的运动速度:

表达式中给出S0等于:

可以理解为u0=(2eV0/M)是离子的特征速度,n0是等离子体的密度。

鞘层的厚度主要与所施加的电压、等离子体的密度和离子的质量有关。

调节注入电流的等离子体的等效阻抗与鞘层厚度的平方成正比。因此注入电流随着鞘层的增加而非常迅速地减少。

经过一段时间后,有必要进行重新初始化。事实证明,当鞘层到达使注入机构停止的外壳壁时,这实际上是不可缺少的。

因此,为了重新初始化系统,通常在保持等离子体被激发的同时停止在基底上的高电压。因此必须设置产生高电压脉冲的脉冲发电机。

因此,参照图1,文献WO 01/15200提出通过电源使基底偏压,所述电源包括:

-发电机GEN,其正极接地,

-并联在发电机GEN上的电容器Ct,

-第一开关IT1,其第一极连接到发电机GEN的负极并且其第二极连接到该电源的输出端子O;以及

-第二开关IT2,其第一极连接到输出端子O并且其第二极接地。

该过程包括以下几个阶段:

-注入阶段,在其间

ο等离子体电源被激活,

ο第一开关IT1闭合,

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