[发明专利]用于分析样品和监测光信号检测器的性能的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201680072601.0 申请日: 2016-12-22
公开(公告)号: CN108369180B 公开(公告)日: 2022-12-16
发明(设计)人: D·奥帕斯基;S·拉胡万石;J·布伊 申请(专利权)人: 简·探针公司
主分类号: G01N21/03 分类号: G01N21/03;G01N21/64;G01N21/75;G01N21/27
代理公司: 北京坤瑞律师事务所 11494 代理人: 封新琴
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 分析 样品 监测 信号 检测器 性能 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种测定仪器,其包括:

第一荧光计,所述第一荧光计包括第一检测通道,所述第一检测通道具有第一光源和第一传感器,所述第一检测通道被配置来发射并聚焦由所述第一光源在第一检测区处产生的光,并且接收光并将光聚焦在所述第一传感器上;

承载器,所述承载器包括第一非荧光表面部分和空隙并且被构造来支撑第一容器,其中所述承载器和所述第一荧光计在至少以下位置中可相对于彼此移动:(i)所述第一容器的一部分处于所述第一检测区中的第一位置;(ii)所述承载器的所述第一非荧光表面部分位于所述第一检测区中的第二位置;以及(iii)所述空隙位于所述第一检测区中的第三位置;以及

控制器,所述控制器可操作地耦合到所述第一荧光计并且被配置来:

基于当所述承载器处于所述第一位置时聚焦在所述第一传感器上的光的第一测量强度来确定包含在所述第一容器内的样品的特征,以及

基于下列来确定所述第一荧光计的操作性能状态:(i)当所述承载器处于所述第二位置时聚焦在所述第一传感器上的光的第二测量强度;以及(ii)当所述承载器处于所述第三位置时聚焦在所述第一传感器上的光的第三测量强度。

2.根据权利要求1所述的测定仪器,其中所述控制器被配置来通过确定所述第二测量强度是否在第一预定非荧光表面强度范围内来确定所述操作性能状态。

3.根据权利要求2所述的测定仪器,其中所述第一预定非荧光表面强度范围大于零。

4.根据权利要求2所述的测定仪器,其中所述第一预定非荧光表面强度范围在5-5800个相对荧光单位(RFU)之间。

5.根据权利要求1所述的测定仪器,其中所述控制器被配置来通过确定所述第三测量强度是否在第一预定空隙强度范围内来确定所述第一荧光计的所述操作性能状态。

6.根据权利要求5所述的测定仪器,其中所述第一预定空隙强度范围包括零。

7.根据权利要求5所述的测定仪器,其中所述第一预定空隙强度范围在0-2260个相对荧光单位(RFU)之间。

8.根据权利要求1所述的测定仪器,其中所述控制器被配置来基于所述第二测量强度和所述第三测量强度来确定所述第一荧光计的所述操作性能状态。

9.根据权利要求1所述的测定仪器,其中所述操作性能状态是故障状态或性能劣化状态。

10.根据权利要求1所述的测定仪器,其中包含在所述第一容器内的所述样品的所述特征是特定分析物是否存在于包含在所述第一容器内的所述样品中。

11.根据权利要求1所述的测定仪器,其中包含在所述第一容器内的所述样品的所述特征是包含在所述第一容器内的所述样品中的特定分析物的量。

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