[发明专利]结晶过渡金属羟基氧化物钼钨酸盐

权利要求书

1.具有下式的结晶过渡金属羟基氧化物钼钨酸盐材料：

(NH₄)_AM(OH)_BMo_XW_YO_Z

其中‘A’在0.1-10的范围内；‘M’是选自Mg、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn及其混合物的金属；‘B’在0.1-2的范围内；‘X’在0.5-1.5的范围内；‘Y’在0.01-0.4的范围内；其中(X+Y)的总和必须≤1.501；‘Z’是满足A、M、B、X和Y的价键总和的数值；所述材料具有独特的x-射线粉末衍射图案，其中显示在表A所列出的d-间距处的峰：

表A

其中符号s、m和w分别表示d-间距的相对强度为强、中等和弱，并且按照100(I/I₀)计，符号w、m、s分别定义为：w＝0-15，m＝15-60，s＝60-80。

2.权利要求1的结晶过渡金属羟基氧化物钼钨酸盐材料，其中结晶过渡金属羟基氧化物钼钨酸盐材料是作为与选自二氧化硅、氧化铝和二氧化硅-氧化铝的至少一种粘合剂的混合物存在，并且其中此混合物含有至多25重量％的粘合剂。

3.权利要求1的结晶过渡金属羟基氧化物钼钨酸盐材料，其中结晶过渡金属羟基氧化物钼钨酸盐材料是被硫化的。

4.一种制备具有下式的结晶过渡金属羟基氧化物钼钨酸盐材料的方法，

(NH₄)_AM(OH)_BMo_XW_YO_Z

其中‘A’在0.1-10的范围内；‘M’是选自Mg、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn及其混合物的金属；‘B’在0.1-2的范围内；‘X’在0.5-1.5的范围内；‘Y’在0.01-0.4的范围内；其中(X+Y)的总和必须≤1.501；‘Z’是满足A、M、B、X和Y的价键总和的数值；所述材料具有独特的x-射线粉末衍射图案，其中显示在表A所列出的d-间距处的峰：

表A

其中符号s、m和w具有在权利要求1中所述的含义，

此方法包括：

(a)形成含有NH₃、H₂O以及M、W和Mo的源物质的反应混合物；

(b)将反应混合物的pH调节到8.5-10的pH；

(c)反应混合物在100-220℃下在自生环境中反应；和

(d)回收结晶过渡金属羟基氧化物钼钨酸盐材料。

5.权利要求4的方法，其中反应在110-220℃的温度下进行30分钟至14天的时间。

6.权利要求4的方法，还包括将选自氧化铝、二氧化硅和氧化铝-二氧化硅的粘合剂加入所回收的结晶过渡金属羟基氧化物钼钨酸盐材料中。

7.权利要求4的方法，还包括使所回收的结晶过渡金属羟基氧化物钼钨酸盐材料进行硫化。

8.一种转化方法，包括使进料与催化剂在转化条件下接触以得到至少一种产物，所述催化剂包含：具有下式的结晶过渡金属羟基氧化物钼钨酸盐材料：

(NH₄)_AM(OH)_BMo_XW_YO_Z

其中‘A’在0.1-10的范围内；‘M’是选自Mg、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn及其混合物的金属；‘B’在0.1-2的范围内；‘X’在0.5-1.5的范围内；‘Y’在0.01-0.4的范围内；其中(X+Y)的总和必须≤1.501；‘Z’是满足A、M、B、X和Y的价键总和的数值；所述材料具有独特的x-射线粉末衍射图案，其中显示在表A所列出的d-间距处的峰：

表A

其中符号s、m和w具有在权利要求1中所述的含义。