[发明专利]确定对比图像的显微术方法和显微镜

权利要求书

1.一种显微术方法，其中将照明辐射(3)指引通过布置在显微镜(1)的物平面(5)中的物体(12)，以通过从所述物平面(5)获得的物体辐射(30)将所述物体(12)成像，用所述显微镜(1)的第一构造(I)获取所述物体(12)的第一图像(I_P)的图像数据和用所述显微镜(1)的第二构造(II)获取所述物体(12)的第二图像(1_WF)的图像数据以及确定所述第一图像(I_P)的图像数据与所述第二图像(I_WF)的图像数据之间的差值(ΔI_P，I_WF)，并且根据确定的差值(ΔI_P，I_WF)来提供所述物体(12)的对比图像(I_PRK)的图像数据，其特征在于，在所述第一构造(I)中，相位掩模(13)关于所述显微镜(1)的光轴(7)横向地具有至少一个光学梯度(OG)，通过所述光学梯度的效应产生或能够产生所述物体辐射(30)的相位梯度(PG)，所述相位掩模(13)布置在所述显微镜(1)的光瞳(8)中，并且在所述第二构造(II)中，将所述相位掩模(13)从所述光瞳(8)移除，以及所述显微术方法是透射式显微术方法。

2.根据权利要求1所述的显微术方法，其特征在于，以所述第二构造(II)，获取宽场图像的图像数据。

3.根据权利要求1或2所述的显微术方法，其特征在于，进行所述第一和第二图像(I_P、I_WF)的图像数据的归一化和/或缩放。

4.根据权利要求1或2所述的显微术方法，其特征在于，根据所述图像数据的确定的差值(ΔI_P，I_WF)来产生反向对比图像。

5.根据权利要求1或2所述的显微术方法，其特征在于，根据所述物体(12)的光学性质选择所述相位掩模(13)的光学梯度(OG)。

6.根据权利要求1或2所述的显微术方法，其特征在于，通过所述第一构造(I)和第二构造(II)与多个获取过程交替进行所述图像数据的获取，所述多个获取过程用所述显微镜(1)的第三构造来执行。

7.根据权利要求1或2所述的显微术方法，其特征在于，基于所述对比图像(I_PRK)的图像数据执行所述物体(12)的状态的分析，其中所述对比图像(I_PRK)的图像数据中的至少一个子集与目标数据比较。

8.一种显微镜(1)，包括光源(2)、聚光器(4)、物镜单元(6)、成像单元(9)和获取单元(11)，所述光源(2)提供照明辐射(3)，所述聚光器(4)将照明辐射(3)聚焦在物平面(5)中，所述物镜单元(6)在像侧光瞳(8)中在所述显微镜(1)的光轴(7)的方向上收集并成像从所述物平面(5)获得的物体辐射(30)；所述成像单元(9)将从所述物平面(5)获得的物体辐射(30)成像在像平面(10)中；以及所述获取单元(11)在所述像平面(10)中空间上分辨地获取图像数据，其特征在于，所述显微镜还包括设计为将相位掩模(13)移进或移出所述光瞳(8)的给送装置(14)，所述相位掩模(13)具有关于所述光轴(7)横向地形成的至少一个光学梯度(OG)，并且通过所述光学梯度(OG)的效应产生或者能够生产所述物体辐射(30)的相位梯度(PG)。

9.根据权利要求8所述的显微镜(1)，其特征在于，存在评估由所述获取单元(11)获取的图像数据的评估单元(15)，所述评估单元(15)设计为确定所述相位掩模(13)布置在所述光瞳(8)中的情况下获取的至少一个数据集合和没有布置在所述光瞳(8)中的所述相位掩模(13)的情况下获取的参考数据集合之间的图像数据的差值(ΔI_P，I_WF)。