[发明专利]半导体模块有效

专利信息
申请号: 201680077341.6 申请日: 2016-10-14
公开(公告)号: CN108475668B 公开(公告)日: 2019-09-27
发明(设计)人: S.哈特曼恩;U.施拉普巴奇 申请(专利权)人: ABB瑞士股份有限公司
主分类号: H01L23/49 分类号: H01L23/49;H01L25/07
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 徐予红;张金金
地址: 瑞士*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要:
搜索关键词: 半导体开关 二极管芯片 芯片 衬底板 半导体模块 发射极导体 接合线 栅极电流路径 发射极电流 突出区域 栅极导体 导体 电连接 集电极 半导体芯片 栅电极 延伸
【权利要求书】:

1.一种半导体模块(10),包括:

衬底板(14);

第一半导体开关芯片(22a)和第一二极管芯片(24a),附连到所述衬底板(14)上的集电极导体(16),其中所述第一二极管芯片(24a)反并联电连接到所述第一半导体开关芯片(22a);

其中所述第一半导体开关芯片(22a)经由接合线(28)电连接到所述衬底板(14)上的发射极导体(18),从而提供第一发射极电流路径(50a),所述发射极导体(18)相对于所述第一二极管芯片(24a)与所述第一半导体开关芯片(22a)相对地布置;

其中所述第一半导体开关芯片(22a)的栅电极(40a)经由接合线(28)电连接到所述衬底板(14)上的栅极导体(20),从而提供第一栅极电流路径(54a),所述栅极导体(20)相对于所述第一二极管芯片(24a)与所述第一半导体开关芯片(22a)相对地布置;

其中所述发射极导体(18)的突出区域(44)在所述第一二极管芯片(24a)旁边朝所述第一半导体开关芯片(22a)延伸,以及所述第一半导体开关芯片(22a)经由接合线(28)与所述突出区域(44)直接连接,从而提供至少部分沿所述第一栅极电流路径(54a)延伸的附加发射极电流路径(52);

其中所述第一半导体开关芯片(22a)以及所述第一二极管芯片(24a)布置在第一行(42a)中;

其中所述半导体模块(10)还包括第二行(42b)的附连到所述集电极导体(16)的第二二极管芯片(24b)和第二半导体开关芯片(22b),其中每个行的所述二极管芯片(24a、24b)反并联电连接到相同行的所述半导体开关芯片(22a、22b),以及所述第一和第二行(42a、42b)并联电连接;

其中所述第一半导体开关芯片(22a)布置在所述第二二极管芯片(24b)旁边,以及所述第二半导体芯片(22b)布置在所述第一二极管芯片(24a)旁边;

其中所述第一和第二半导体开关芯片(22a、22b)经由接合线(28)电连接到所述衬底板(14)上的所述发射极导体(18);

其中所述发射极导体(18)布置在所述第一二极管芯片(24a)和所述第二半导体开关芯片(22b)旁边的所述半导体模块(10)的一侧上;

其中所述第一和第二半导体开关芯片(22a、22b)的栅电极(40a、40b)电连接到所述栅极导体(20),所述栅极导体(20)布置在所述发射极导体(18)所布置在的所述半导体模块(10)的所述侧,使得所述第一半导体开关芯片(22a)的所述栅电极(40a)与所述栅极导体(20)之间的所述第一栅极电流路径(54a)比所述第二半导体开关芯片(22b)的所述栅电极(40b)与所述栅极导体(20)之间的第二栅极电流路径(54b)更长。

2.如权利要求1所述的半导体模块(10),

其中,所述附加发射极电流路径(52)和所述第一栅极电流路径(54a)布置成使得它们按照以下方式电感耦合:所述第一半导体开关芯片(22a)的栅极-发射极电压通过所述附加发射极电流路径(52)中的电流来提高。

3.如以上权利要求中的一项所述的半导体模块(10),

其中,所述第一半导体开关芯片(22a)经由接合线(28)与所述第一二极管芯片(24a)连接,以及所述第一二极管芯片(24a)经由接合线(28)与所述发射极导体(18)连接。

4.如权利要求1或2所述的半导体模块(10),

其中,所述第一半导体开关芯片(22a)的所述栅电极(40a)经由接合线(28)与所述衬底板(14)上的桥接导体(48)连接,所述桥接导体(48)至少部分地被所述发射极导体(18)的所述突出区域(44)所包围并且其经由接合线(28)与所述栅极导体(20)连接。

5.如权利要求4所述的半导体模块(10),

其中,所述桥接导体(48)布置在所述第一二极管芯片(24a)与所述发射极导体(18)的所述突出区域(44)之间;或者

其中所述发射极导体(18)的所述突出区域(44)完全包围所述桥接导体(48)。

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