[发明专利]光子计数CT装置有效
申请号: | 201680078044.3 | 申请日: | 2016-11-17 |
公开(公告)号: | CN108472004B | 公开(公告)日: | 2021-07-23 |
发明(设计)人: | 小岛进一;昆野康隆;渡边史人;高桥勋 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 范胜杰;曹鑫 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光子 计数 ct 装置 | ||
1.一种光子计数CT装置,其特征在于,具备:
照射X射线的X射线照射部;
检测上述X射线的光子计数方式的X射线检测部;
数据收集部,其按照每个预先设定的分区的能量范围,对通过上述X射线检测部检测出的X射线光子进行计数,得到每个上述能量范围的测量信息;
参考检测部,其测量从上述X射线照射部照射的X射线的波动;
时间测量部,其测量上述X射线照射部的旋转方向的时间波动;以及
校正部,其基于上述时间测量部测量到的时间测量数据,对上述参考检测部测量到的测量数据进行校正。
2.根据权利要求1所述的光子计数CT装置,其特征在于,
上述校正部基于上述时间测量数据,对上述数据收集部测量到的上述测量信息进行校正。
3.根据权利要求1所述的光子计数CT装置,其特征在于,
上述校正部使用上述时间测量数据,将上述参考检测部的测量数据转换为辐射剂量率数据。
4.根据权利要求3所述的光子计数CT装置,其特征在于,
上述校正部基于上述辐射剂量率数据和预先测量伴随堆积的上述测量信息的变化量而得的堆积校正数据,对上述辐射剂量率数据进行校正。
5.根据权利要求4所述的光子计数CT装置,其特征在于,
上述校正部使用上述时间测量数据,将校正后的上述辐射剂量率数据转换为辐射剂量数据。
6.根据权利要求5所述的光子计数CT装置,其特征在于,
上述校正部基于转换后的上述辐射剂量数据,对每个上述能量范围的测量信息进行校正。
7.根据权利要求1所述的光子计数CT装置,其特征在于,
上述参考检测部的X射线检测器的尺寸比上述X射线检测部的X射线检测器的尺寸小。
8.根据权利要求1所述的光子计数CT装置,其特征在于,
上述参考检测部由与上述X射线检测部的上述X射线检测器的尺寸同等尺寸或小尺寸的多个X射线检测器构成。
9.根据权利要求1所述的光子计数CT装置,其特征在于,
在上述参考检测部和上述X射线照射部之间,具备能够使X射线过滤器根据上述X射线照射部的X射线剂量变化的X射线剂量可变过滤器。
10.根据权利要求1所述的光子计数CT装置,其特征在于,
上述参考检测部由积分型检测器构成,
上述校正部基于预先求出的针对从上述X射线照射部照射的X射线的上述参考检测部的信号量与上述X射线检测部的每个上述能量范围的测量信息的关系,根据与拍摄被拍摄体时的上述X射线检测部的每个上述能量范围的测量信息的关系以及与拍摄中的上述参考检测部的信号量的关系,按每个能量范围进行上述测量信息的校正。
11.根据权利要求1所述的光子计数CT装置,其特征在于,
在上述参考检测部和上述X射线照射部之间,还具备能够使X射线过滤器根据上述X射线照射部的X射线剂量变化的X射线剂量可变过滤器。
12.根据权利要求2所述的光子计数CT装置,其特征在于,
在上述参考检测部和上述X射线照射部之间,还具备能够使X射线过滤器根据上述X射线照射部的X射线剂量变化的X射线剂量可变过滤器。
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