[发明专利]测定装置及测定方法

说明书

测定装置(1)具有：A/D变换器(30)、MUX(40)和控制电路(50)。A/D变换器(30)将热电偶(10)产生的电压值(Raa)变换为电压值(Rad)，并且将冷接点补偿电阻(20)产生的电压值(Rba)变换为电压值(Rbd)。MUX(40)具有将电压值(Raa)输入的第1输入端子(41)和将电压值(Rba)输入的第2输入端子(42)。控制电路(50)对电压值(Rad)及电压值(Rbd)进行处理。MUX(40)对由A/D变换器(30)将电压值(Raa)变换为电压值(Rad)的第1状态和由A/D变换器(30)将电压值(Rba)变换为电压值(Rbd)的第2状态进行切换。

技术领域

本发明涉及对测定对象物的状态量进行测定的测定装置及测定方法。

背景技术

以往使用对作为测定对象物的状态量的温度进行测定的测定装置(参照专利文献1)。专利文献1所示的测定装置具有：测定装置主体；热电偶，其与所述测定装置主体的端子座连接且固定于测定对象物；以及冷接点补偿电阻，其用于对所述端子座的温度进行测定。

专利文献1：日本特开2010－96507号公报

发明内容

专利文献1所示的测定装置具有：热电偶输出测定电路，其对热电偶产生的热电动势进行测定；以及输出测定电路，其对电流流过冷接点补偿电阻时的电压进行测定。即，专利文献1所示的测定装置需要设置下述两个处理部，即，对热电偶产生的热电动势进行处理的处理部和对电流流过冷接点补偿电阻时的电压进行处理的处理部。这样，专利文献1所示的测定装置存在部件个数增加的问题。

本发明就是鉴于上述情况而提出的，其目的在于得到能够抑制部件个数的增加的测定装置。

为了解决上述的课题并达到目的，本发明提供一种测定装置，该测定装置具有：第1数据输入部，其输入第1数据；第2数据输入部，其输入第2数据；以及采样部，其对第1数据及第2数据进行采样。第2数据的每单位时间的变化量与第1数据不同。测定装置的特征在于，具有：切换部，其对第1状态和第2状态进行切换，该第1状态是由采样部对第1数据进行采样的状态，该第2状态是由采样部对第2数据进行采样的状态；以及信息处理部，其对通过采样部得到的第1数据的采样结果及第2数据的采样结果进行处理。

发明的效果

本发明所涉及的测定装置具有下述效果，即，能够抑制部件个数的增加。

附图说明

图1是表示实施方式1所涉及的测定装置的外观的斜视图。

图2是表示实施方式1所涉及的测定装置的结构的框图。

图3是表示图2所示的测定装置的第1状态的MUX的图。

图4是表示图2所示的测定装置的第2状态的MUX的图。

图5是表示图2所示的测定装置的控制电路的周期控制部、MUX及A/D变换器的动作的图。

图6是表示图2所示的测定装置的A/D变换器、第1数据处理部、第2数据处理部及运算部的动作的图。

图7是表示图1所示的测定装置的硬件的结构的图。

图8是表示图1所示的测定装置的存储器的存储区域的图。

图9是表示实施方式2所涉及的测定装置的结构的框图。

图10是表示图9所示的测定装置的A/D变换器、第1数据处理部、第2数据处理部及运算部的动作的图。

具体实施方式

下面，基于附图，对本发明的实施方式所涉及的测定装置及测定方法详细地进行说明。此外，本发明并不受本实施方式限定。

实施方式1.