[发明专利]用于确定物体的高度位置的方法有效
申请号: | 201680081444.X | 申请日: | 2016-12-13 |
公开(公告)号: | CN108700732B | 公开(公告)日: | 2019-10-11 |
发明(设计)人: | 尼尔斯·兰厚哲;维克多·德雷舍尔 | 申请(专利权)人: | 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 |
主分类号: | G02B21/00 | 分类号: | G02B21/00;G01B11/22;G01B11/24 |
代理公司: | 北京市创世宏景专利商标代理有限责任公司 11493 | 代理人: | 崔永华 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 第一位置 点扩散函数 宽视场 高度位置 共焦 显微镜 成像 相乘 预定比例因子 测量位置 共焦成像 计算点 焦点 景深 链接 扩散 | ||
1.一种通过使用显微镜(10,100,200)确定物体(12)在物体(12)的横向的第一位置处的高度位置的方法,所述显微镜沿着与高度方向一致的z方向利用点扩散函数(PSF)对物体(12)成像,所述方法包括以下步骤:
-在宽视场中用显微镜(10,100,200)对物体(12)成像并确定宽视场强度(IW),
-通过将宽视场强度(IW)乘以预定的比例因子(Sk)来计算在所述第一位置预期的最大强度(Imax*),
-在所述第一位置对物体(12)进行部分共焦成像,其中焦点位于z方向上的测量位置(z1),其中具有大于衍射极限的开口的针孔装置(18,118,218)被用于部分共焦成像,并且其中部分共焦成像限定景深范围并且焦点在景深范围内,并确定所述第一位置处的部分共焦图像的部分共焦强度(I1),
-通过在部分共焦强度(I1)与宽视场强度(IW)和预定链接因子(Vk)的乘积之间进行减法运算,计算第一位置处的与点扩散函数(PSF)对应的强度(I1*),
-使用点扩散函数(PSF)的预定形式、已算出的对应于点扩散函数(PSF)的强度(I1*)和已算出的预期最大强度(Imax*)计算焦点的z坐标(zh),点扩散函数(PSF)在所述焦点处取最大值,和
-使用所述z坐标(zh)作为物体(12)在所述第一位置处的高度位置。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过执行以下步骤来确定比例因子(Sk):
-通过使焦点位置在z方向上反复地移位并在每个焦点位置对第一校准物体或物体(12)的横向的第一校准位置进行部分共焦成像来产生z-堆叠,并确定每个这样获得的部分共焦图像的部分共焦强度,
-计算所述第一校准位置处的z方向强度分布,并确定所述第一校准位置处的所述强度分布的最大校准强度(Ikmax),
-使用显微镜(10,100,200)在宽视场中对所述第一校准位置成像,并确定所述第一校准位置处的第一校准宽视场强度(IkW1),以及
-计算比例因子(Sk),所述比例因子是最大校准强度(Ikmax)与第一校准宽视场强度(IkW1)之间的比率。
3.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,通过执行以下步骤来确定链接因子(Vk):
-对第二校准物体或物体(12)的横向的第二校准位置进行部分共焦成像,其中焦点位于z方向上的校准测量位置(zk1),所述校准测量位置在景深范围内,并确定所述第二校准位置处的部分共焦图像的校准强度(Ik1),
-对第二校准位置进行共焦成像,其中焦点位于校准测量位置(zk1),并确定第二校准位置处的共焦图像的共焦校准强度(Ik1*),
-使用显微镜(10,100,200)在宽视场中对第二校准位置进行成像,并确定第二校准位置处的第二校准宽视场强度(IkW2),以及
-计算链接因子(Vk),所述链接因子是部分共焦校准强度(Ik1)和共焦校准强度(Ik1*)之间的差值与第二校准宽视场强度(IkW2)之间的比率。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,使用显微镜(10,100,200)在宽视场中对所述第一位置进行成像,并且确定所述第一位置处的宽视场强度(IW)。
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