[发明专利]从半导体图像检测器输出数据的方法有效
申请号: | 201680081972.5 | 申请日: | 2016-02-26 |
公开(公告)号: | CN108701490B | 公开(公告)日: | 2022-07-12 |
发明(设计)人: | 曹培炎;程华斌;刘雨润 | 申请(专利权)人: | 深圳帧观德芯科技有限公司 |
主分类号: | G11C29/24 | 分类号: | G11C29/24;G01T1/24 |
代理公司: | 深圳市六加知识产权代理有限公司 44372 | 代理人: | 罗水江 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区招商街道沿山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 图像 检测器 输出 数据 方法 | ||
1.一种适用于检测图像的装置,该装置包括:
多个像素,所述多个像素被配置成在暴露于辐射时产生电信号;
电子系统,所述电子系统与所述多个像素中的每个像素相关联,
其中所述电子系统包括第一信号路径上的第一内存和第二信号路径上的第二内存,所述第一信号路径和所述第二信号路径均在所述电子系统的输入端子与输出端子之间;
其中所述第一内存和所述第二内存中的每个内存被配置成存储由与所述电子系统相关联的像素产生的电信号,被配置成存储在另一个像素中产生的电信号以及被配置成将所述电子系统中存储的电信号传送到另一个像素;
其中所述电子系统包括开关,所述开关被配置成选择所述第一信号路径和所述第二信号路径中的一个信号路径。
2.根据权利要求1所述的装置,其中所述输入端子被配置成接收进入所述电子系统的信号,并且所述输出端子被配置成将存储在所述电子系统中的信号传送到下游电路。
3.根据权利要求1所述的装置,其中,除非所述第一内存有缺陷,选择所述第一信号路径。
4.根据权利要求1所述的装置,其中在所述第一内存有缺陷时选择所述第二信号路径。
5.根据权利要求1所述的装置,其中所述装置被配置成检测X射线图像。
6.根据权利要求1所述的装置,其中所述电子系统包括内存,所述内存被配置成存储代表缺陷状态和对信号路径的选择的代码。
7.根据权利要求6所述的装置,其中所述内存具有冗余。
8.根据权利要求1所述的装置,所述装置包括内存,所述内存被配置成存储代表多个所述电子系统的缺陷状态和对信号路径的选择的代码。
9.根据权利要求8所述的装置,其中所述内存是非易失性内存。
10.根据权利要求8所述的装置,所述装置包括控制器,所述控制器被配置成基于所述代码在多个所述电子系统中进行信号路径选择。
11.根据权利要求10所述的装置,其中所述内存是可移动加密锁。
12.根据权利要求11所述的装置,其中,如果不存在所述可移动加密锁,停用所述装置。
13.根据权利要求1所述的装置,
其中所述电子系统包括连接所述输入端子和所述输出端子的旁路路径,所述旁路路径上没有内存;
其中所述电子系统包括开关,所述开关被配置成选择所述第一信号路径、所述第二信号路径或所述旁路路径。
14.根据权利要求7所述的装置,其中所述装置被配置成统一地为一组所述电子系统在冗余的所述内存之间进行选择。
15.一种适用于检测图像的装置,该装置包括:
多个像素,所述多个像素被配置成在暴露于辐射时产生电信号;
电子系统,所述电子系统与所述多个像素中的每个像素相关联;
其中所述电子系统包括在所述电子系统的输入端子与输出端子之间的信号路径上的第一内存;
其中所述第一内存被配置成存储由与所述电子系统相关联的像素产生的电信号,被配置成存储在另一个像素中产生的电信号以及被配置成将存储在所述电子系统中的电信号传送到另一个像素;
其中所述电子系统包括连接所述输入端子和所述输出端子的旁路路径,在所述旁路路径上没有内存;
其中所述电子系统包括开关,所述开关被配置成选择所述信号路径或所述旁路路径。
16.根据权利要求15所述的装置,其中所述输入端子被配置成接收进入所述电子系统的信号,并且所述输出端子被配置成将存储在所述电子系统中的信号传送到下游电路。
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