[发明专利]质谱分析装置

权利要求书

1.一种质谱分析装置，具备使离子断裂的断裂部和分别位于该断裂部的前级和后级的质量分离部，所述质谱分析装置的特征在于，还具备：

a)存储部，其预先保存有与多个化合物中的各个化合物有关的质谱数据；

b)前体离子候选选出部，其根据用户的输入指示，针对多个对象化合物中的各个对象化合物，按照预先决定的条件从所述质谱数据中选出一个或多个前体离子候选，所述多个对象化合物为所述多个化合物的一部分或全部；

c)产物离子扫描测定条件决定部，其将各个所述前体离子候选与预先决定的多个断裂能量的候选值组合，来设定多个产物离子扫描测定条件；

d)产物离子谱数据获取部，其分别执行按照所述多个产物离子扫描测定条件的MS/MS测定，来获取产物离子谱数据；

e)化合物数据库文件制作部，其针对所述多个对象化合物中的各个对象化合物，制作将所述产物离子扫描测定条件与在该条件下获取到的所述产物离子谱数据关联起来的化合物数据库文件，并将该化合物数据库文件保存到所述存储部中；

f)MRM测定条件候选制作部，其针对所述多个对象化合物中的各个对象化合物，从全部的所述产物离子谱数据中按照预先决定的条件提取产物离子，制作包括各产物离子的质荷比、与该产物离子对应的前体离子的质荷比及断裂能量的候选值的多重反应监测测定条件候选即MRM测定条件候选，并将该MRM测定条件候选保存到所述存储部中；

g)显示部；

h)质谱显示控制部，其当用户进行选择所述多个对象化合物中的任意对象化合物的操作时，从所述存储部读取该对象化合物的质谱数据来在所述显示部显示质谱，并且将所述前体离子候选的质量峰以被区别于其它质量峰的方式显示；以及

i)产物离子谱显示控制部，其当用户进行选择质谱的所述被区别的质量峰的操作时，在所述显示部显示通过使用与该质量峰对应的前体离子在不同断裂能量的值下执行的产物离子扫描测定所获取到的产物离子谱中的、具有最高强度的质量峰的产物离子谱，并且在所述显示部显示所述多个断裂能量的候选值中的各个候选值下的该质量峰的强度。

2.根据权利要求1所述的质谱分析装置，其特征在于，

所述产物离子谱显示控制部强调显示产物离子谱的与所述MRM测定条件候选所含的产物离子对应的质量峰。

3.根据权利要求1所述的质谱分析装置，其特征在于，还具备：

j)MRM测定条件设定部，当用户指定在所述显示部显示的所述产物离子谱的质量峰时，该MRM测定条件设定部将与该质量峰对应的前体离子和产物离子的组决定为MRM转变，进而从所述多个断裂能量的候选值中提取该产物离子的质量峰的强度最大的值并将该值决定为断裂能量的值，来设定MRM测定条件。

4.根据权利要求1所述的质谱分析装置，其特征在于，

当自外部被输入新的化合物的质谱数据和产物离子谱数据时，

所述前体离子候选选出部从所述产物离子谱数据中提取该产物离子谱数据中的前体离子并将该前体离子决定为前体离子候选，

所述MRM测定条件候选制作部从所述产物离子谱数据中按照预先决定的条件提取产物离子，制作包括该产物离子的质荷比、与该产物离子对应的前体离子的质荷比及断裂能量的候选值的MRM测定条件候选，

所述化合物数据库文件制作部使用所述质谱数据、所述产物离子谱数据、所述前体离子候选及所述MRM测定条件候选来更新所述化合物数据库。