[发明专利]色谱数据处理方法以及色谱数据处理装置有效
申请号: | 201680083134.1 | 申请日: | 2016-01-06 |
公开(公告)号: | CN108780074B | 公开(公告)日: | 2021-03-02 |
发明(设计)人: | 野田阳 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N30/86 | 分类号: | G01N30/86 |
代理公司: | 上海立群专利代理事务所(普通合伙) 31291 | 代理人: | 杨楷;毛立群 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 色谱 数据处理 方法 以及 装置 | ||
色谱数据处理方法以及色谱数据处理装置,提取在基于处理对象即观测数据的色谱上检测的各峰的波长光谱,制作将其强度值归一化的光谱集合。然后,选择其中一个波长光谱,并以与该光谱的向量方向正交的方式,对基于观测数据的在各测量时间点的波长光谱的向量进行投影。此外,对集合内的各波长光谱的向量也同样地投影。由此,选择的光谱从集合消失。然后,重复上述处理,直到集合内光谱消失,合计所得到的信号。合计后的信号变成表示未知的基线的波形形状的信号,因此通过将其与从观测数据得到的每个波长的色谱进行拟合求出基线的光谱,根据该基线光谱与基线色谱计算每个波长的基线信号。由此,无需用户进行参数的设定等,能够自动推定基线。
技术领域
本发明涉及对三维色谱数据进行处理的色谱数据处理方法以及色谱数据处理装置,更详细而言,涉及用于推定色谱的基线或获取从色谱去除基线后的峰色谱的色谱数据处理方法以及装置,所述三维色谱数据是通过将光电二极管阵列(PDA)检测器等的多通道型检测器或质谱仪用作检测器的液相色谱仪(LC)或气相色谱仪(GC)收集的、除了时间、信号强度以外还具有波长或质荷比等的其他参数。
背景技术
在使用了PDA检测器等的多通道型检测器的LC中,将向流动相注入试样的注入时间点作为基点,相对于从色谱柱出口洗脱的试样液重复获取规定波长范围内的吸收光谱,由此能够得到具有时间、波长以及吸光度(信号强度)这三个维度的三维色谱数据。此外,在液相色谱质谱仪 (LC-MS)或气相色谱质谱仪(GC-MS)中,通过在质谱仪中重复进行规定的质荷比范围内的扫描测量,能够得到具有时间、质荷比以及信号强度(离子强度)这三个维度的三维色谱数据。
图2(a)是由上述LC得到的三维色谱数据的概念图。通过从这样的三维色谱数据提取在特定波长(例如,波长λ0)的时间方向上的吸光度数据,能够制作如图2(b)所示的在该波长λ0中的色谱(以下称为“波长色谱”)。此外,通过从三维色谱数据提取在特定的测量时刻(例如时刻tp)的波长方向上的吸光度数据,能够制作该时刻tp的吸收光谱。
在基于这样的色谱数据而对试样所包含的已知的化合物进行定量的情况下,通常,制作该目标化合物对光的吸收最大地显现的吸收波长的波长色谱。然后,在该波长色谱上找出来自目标化合物的峰,计算该峰的面积值,并与预先求出了其面积值的标准曲线进行对照,计算定量值。因此,为了进行准确的定量,重要的是在色谱上精度良好地求出与目标化合物相对应的峰的面积值。
然而,一般来说,波长色谱上存在来自流动相等的基线。此外,也存在来自目标化合物的峰与来自其它化合物的峰重叠的情况。因此,为了准确地求出与目标化合物相对应的峰面积值,需要准确地推定来自流动相等的基线并找出去除了该基线的影响的、真正的峰区域。
用于LC系统的一般的数据处理装置,具备基于由测量得到的色谱波形而自动地推定基线的峰波形处理功能。然而,在自动的波形处理中,无法根据色谱波形的形状而推定适当的基线的情况也较多。因此,如非专利文献1所公开的那样,在以往的数据处理装置中,用户通过手动适当地改变或设定波形处理的参数或适用的波形处理的算法,由此能够推定更适当的基线。
图8是表示基于非专利文献1记载的波形处理,根据色谱波形推定的基线以及峰P的面积值计算对象区域(图中用斜线所示区域)的一例的图。在图8中,(a)是在去除负峰之后将信号零电平作为基线将峰垂直分割的例子,(b)是将各峰的底部之间用直线连接而作为基线的例子, (c)是将各峰的底部之间用曲线连接而作为基线的例子。根据这些例子可知,峰面积值因基线的绘制方法而大不相同。
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