[发明专利]特征提取元件、特征提取系统及判定装置有效
申请号: | 201680083514.5 | 申请日: | 2016-03-30 |
公开(公告)号: | CN108781265B | 公开(公告)日: | 2020-11-03 |
发明(设计)人: | 松本繁;中西奏太;石田知久;宫本敦史;内川清 | 申请(专利权)人: | 株式会社尼康 |
主分类号: | H04N5/3745 | 分类号: | H04N5/3745;H04N5/345;H04N5/369 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 陈伟;闫剑平 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 特征 提取 元件 系统 判定 装置 | ||
1.一种特征提取元件,其特征在于,具有:
受光基板,其呈二维地排列有对接受的光进行光电转换的多个受光元件;以及
一个或者多个其他基板,其与所述受光基板层叠,
所述一个或者多个其他基板具有:
卷积处理部,其具有多个乘法电路,该多个乘法电路与各个所述受光元件对应设置或者与各个由所述多个受光元件构成的块对应设置,所述卷积处理部利用多个所述乘法电路对从多个所述受光元件输出的信号进行卷积运算;
池化处理部,其基于预先设定的条件对从所述卷积处理部输出的信号进行采样;以及
连接布线,其将采样得到的所述信号交接至多个所述乘法电路。
2.如权利要求1所述的特征提取元件,其特征在于,
所述卷积处理部与所述池化处理部分别设于多个所述其他基板中的彼此不同的基板,
所述连接布线包括连接所述彼此不同的基板的贯穿电极。
3.如权利要求1或者2所述的特征提取元件,其特征在于,
具有作为所述其他基板而彼此层叠的多个乘法电路基板,
具有乘法电路,
与各个所述受光元件或者各个所述块对应设置的多个所述乘法电路分别设于彼此不同的所述乘法电路基板。
4.如权利要求3所述的特征提取元件,其特征在于,
对多个所述乘法电路基板设定彼此不同的卷积运算用的滤波系数。
5.如权利要求1所述的特征提取元件,其特征在于,
所述卷积处理部具有加法电路,所述加法电路将来自与多个所述受光元件各自对应设置的多个所述乘法电路的输出相加,
所述加法电路设于作为所述一个或者多个其他基板的加法电路基板。
6.如权利要求1所述的特征提取元件,其特征在于,
具有保持来自所述多个受光元件中的至少一个受光元件的信号的锁存器电路,具有读出来自所述至少一个受光元件的信号的读出电路,
所述读出电路设于作为所述一个或者多个其他基板的读出基板,
所述连接布线连接所述池化处理部与所述锁存器电路之间。
7.如权利要求1所述的特征提取元件,其特征在于,
所述一个或者多个其他基板具有激活函数运算处理部,所述激活函数运算处理部将卷积运算得到的所述信号输入至激活函数,将所述激活函数的输出信号输出至所述池化处理部。
8.如权利要求1所述的特征提取元件,其特征在于,
将从多个所述受光元件输出的信号向外部输出。
9.一种特征提取系统,其特征在于,具有:
如权利要求1~8中的任一项所述的特征提取元件;以及
控制部,其以反复进行所述卷积处理部的卷积运算和所述池化处理部的采样的方式进行控制,
所述控制部以在反复进行所述卷积运算时使用各预先设定的滤波系数的方式对所述卷积处理部进行控制。
10.一种判定装置,其特征在于,具有:
如权利要求1~8中的任一项所述的特征提取元件;以及
判定部,其根据基于来自所述池化处理部的输出而提取的特征量来判定摄像对象。
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