[发明专利]用于在处理分束光信号的设备中获得光测量的方法和装置

权利要求书

1.一种光子器件，包括：

耦合器，包括两个输入和两个输出，总共四个输入和输出；

多个光电探测器，耦合至所述四个输入和输出中的三个并且被配置为提供指示所述四个输入和输出的所述三个中的每个处的光功率的信号；

附加耦合器，与所述耦合器串联连接并且包括两个附加输入和两个附加输出，总共四个附加输入和输出；

一组附加光电探测器，耦合至所述附加耦合器的所述四个附加输入和输出中的两个并且被配置为提供指示所述附加耦合器的所述四个附加输入和输出的所述两个中的每个处的光功率的信号；以及

处理部分，被配置为接收由所述多个光电探测器提供的所述信号并且接收由所述一组附加光电探测器提供的信号。

2.根据权利要求1所述的光子器件，其中，所述光子器件是偏振控制器，并且所述处理部分被配置为提供用于基于由所述多个光电探测器提供的所述信号调整所述偏振控制器的一个或者多个移相器的控制信号。

3.根据权利要求1所述的光子器件，还包括偏振旋转-分束器，被配置为接收入射光信号并且将所述入射光信号分成两个正交分量。

4.根据权利要求1所述的光子器件，还包括移相器，被配置为在光信号的两个分量之间引起相对相移，从而提供所述光信号的两个经相移的分量，并且将所述两个经相移的分量提供给所述耦合器的两个输入。

5.根据权利要求1所述的光子器件，其中，所述耦合器是多模干涉MMI耦合器。

6.根据权利要求1至权利要求5的任一项所述的光子器件，其中，所述处理部分进一步被配置为估计所述耦合器的所述四个输入和输出中除了耦合至所述多个光电探测器的所述三个输入和输出之外的一个处的光功率。

7.根据权利要求1所述的光子器件，其中，所述一组附加光电探测器包括所述多个光电探测器中的至少一个。

8.根据权利要求1所述的光子器件，其中，所述处理部分进一步被配置为估计所述四个附加输入和输出中除了耦合至所述附加光电探测器的所述四个附加输入和输出的所述两个之外的其中一个处的光功率。

9.根据权利要求1所述的光子器件，还包括：

偏振旋转-分束器，被配置为接收入射光信号并且将所述入射光信号分成两个正交分量；

第一移相器，被配置为在所述分量之间引起相对相移，从而提供所述光信号的第一对经相移的分量，所述第一对经相移的分量被提供给所述耦合器的两个输入；

第二移相器，被配置为在所述耦合器的两个输出之间引起相对相移，从而提供所述光信号的第二对经相移的分量，所述第二对经相移的分量被提供给所述附加耦合器的两个输入，

其中，所述处理部分被配置为提供用于基于由所述多个光电探测器和所述一组附加光电探测器提供的所述信号调整所述第一移相器和所述第二移相器的控制信号。

10.根据权利要求1所述的光子器件，还包括：

第二附加耦合器，与所述耦合器串联连接并且包括两个第二附加输入和两个第二附加输出，总共四个第二附加输入和输出；以及

第二组附加光电探测器，耦合至所述四个第二附加输入和输出的两个并且被配置为提供指示所述四个第二附加输入和输出的所述两个中的每个处的光功率的信号，

其中，由所述第二组附加光电探测器提供的信号被提供给所述处理部分。