[发明专利]质谱分析数据处理装置、质谱分析数据处理方法及质谱分析数据处理程序有效

专利信息
申请号: 201680088711.6 申请日: 2016-08-23
公开(公告)号: CN109661573B 公开(公告)日: 2021-05-04
发明(设计)人: 山村雄太郎;箕畑俊和 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62;G01N30/72;G01N30/86;H01J49/02;H01J49/04;H01J49/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 谱分析 数据处理 装置 方法 程序
【说明书】:

质谱分析数据处理装置(2)具备将各种化合物的质谱数据与该化合物的名称及质谱分析条件一起保存的数据库(21),质谱分析数据处理装置(2)还具备:质谱数据接收部(22),其接收与化合物名称及质谱分析条件相关联的质谱数据的输入;判定部(25),其判定所述质谱数据中是否存在满足规定基准的质量峰;以及数据库登记部(31),其将被判定为存在所述满足规定基准的质量峰的质谱数据、或基于被判定为存在所述满足规定基准的质量峰的质谱数据的质谱数据,与化合物名称及质谱分析条件一起登记到所述数据库中。

技术领域

本发明涉及用于构建在对试样中包含的成分进行鉴定时使用的化合物数据库的质谱分析数据处理装置、质谱分析数据处理方法及质谱分析数据处理程序。

背景技术

在使用色谱质谱联用仪进行的试样中的成分的鉴定(定性分析)中,用色谱仪的柱将该试样中的成分在时间上分离,将从该柱洗脱出的成分导入到质谱分析装置中,来对源自各成分的离子边质量扫描边进行测定。通过该测定得到总离子色谱和质谱。然后,将获取到的总离子色谱上的峰所在的保留时间以及质谱上的质量峰所在的质荷比及其强度与在化合物数据库中预先保存的已知化合物的保留时间以及质荷比及强度进行对照,基于它们的一致度来鉴定试样中的成分。利用通过测定得到的质谱的质量峰的质荷比及其强度(谱图案)来将多个质谱进行对照的方法被称为图案匹配(例如专利文献1)。

色谱质谱联用仪的质谱分析部包括单四极杆型质谱分析装置、三重四极杆型质谱分析装置、IT-TOF(离子阱-飞行时间)型质谱分析装置等各种结构的装置,能够获取的质谱的种类根据装置的结构的不同而不同。单四极杆型质谱分析装置为仅具备一个质量分离部的最简单的结构的质谱分析装置,通过对源自从色谱仪的柱洗脱出的成分的离子直接进行质量扫描并进行测定,从而仅得到质谱(MS1谱)。另外,三重四极杆型质谱分析装置为隔着碰撞室在前后具有质量分离部的质谱分析装置,通过从源自试样中的成分的离子中筛选具有特定质荷比的离子(前体离子),对使该前体离子断裂而生成的产物离子边质量扫描边进行测定,从而能够得到产物离子谱(MS2谱)。并且,IT-TOF型质谱分析装置为具有离子阱和飞行时间型质量分离部的质谱分析装置,通过在将前体离子的筛选和断裂重复进行一次或多次后,对生成的产物离子边质量扫描边进行测定,从而能够得到MSn谱(n为2以上的整数)。关于分子结构单纯的成分,有时能够通过对MS1谱进行图案匹配来一次性地鉴定该成分。另一方面,在像蛋白质、源自生物体的成分那样分子结构复杂的成分的情况下,对前体离子不同的多个MSn谱进行图案匹配来确定局部结构,从而进行该成分的鉴定。

上述对照中使用的化合物数据库如下那样构建。

首先,将要登记在数据库中的化合物导入到色谱质谱联用仪,在该化合物从色谱仪流出的时间内重复进行质量扫描并测定源自该化合物的离子,获取各时间点的质谱。然后,将各时间点的质谱的总离子强度进行累计并沿时间轴方向标绘,从而获取总离子色谱。此处所说的质谱中,除了有上述MS1谱、MSn谱之外,还有前体离子谱、中性丢失谱等各种谱,通常对于一个化合物获取多个种类的质谱并保存在数据库中。

另外,同一种类的质谱通常是在多个不同的测定条件下获取的。例如在MSn谱的情况下,使质荷比不同的多个前体离子分别在多个不同的断裂能量条件下断裂,在各条件下获取MSn谱。这是因为所生成的离子的种类和/或量根据前体离子的种类与断裂能量条件的组合而不同。

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