[发明专利]用于鉴定钻石的设备

权利要求书

1.一种用于鉴定经切割的钻石(1)的设备，所述设备包括具有测量孔口的测量位置(2)以及可移动的光学系统(15)，待检验的所述经切割的钻石(1)能够固定地定位成使得所述经切割的钻石(1)的台面面向所述测量位置(2)的所述测量孔口，并且所述经切割的钻石(1)的底面位于所述测量孔口的正上方；所述可移动的光学系统(15)包括光谱仪(6)、分别具有250nm至280nm波长和350nm至380nm波长的两个辐射源(10，12)、用于将辐射从所述两个辐射源(10、12)输入至所述经切割的钻石(1)的光纤(11，13)以及用于将辐射从所述经切割的钻石(1)输出至所述光谱仪(6)的光纤(3)，所述可移动的光学系统(15)构造成使得所述光纤(3，11，13)能够被带至与所述经切割的钻石(1)的所述台面直接接触的位置以及被带至在所述光纤(3，11，13)与所述经切割的钻石(1)的所述台面之间形成有间隙的位置；

并且所述设备还包括具有532nm波长的激光辐射源(7)以及微控制器，所述激光辐射源构造成使激光辐射(8)被引导通过所述间隙并被引导至所述经切割的钻石(1)的所述台面，

并且其中，所述微控制器配置成控制所述辐射源(10，12，7)以设定的时间顺序的交替操作、控制所述可移动的光学系统(15)的运动以允许将所述辐射输入到所述经切割的钻石(1)中、并且还控制所述光谱仪的数据的处理。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，用于输出辐射的所述光纤(3)包括两个光纤部段，所述两个光纤部段通过两个准直透镜(4)彼此光学地耦合。

3.根据权利要求1所述的设备，其中，所述可移动的光学系统(15)构造成能够移动，使得用于对来自具有250nm至280nm波长的辐射源(12)的辐射进行输入及输出的光纤(13，3)与所述经切割的钻石(1)的表面直接接触。

4.根据权利要求1所述的设备，其中，所述可移动的光学系统(15)构造成能够移动，使得在用于对来自具有350nm至380nm波长的辐射源(10)的辐射进行输入及输出的光纤(11，3)之间形成1mm至2mm大小的间隙。

5.根据权利要求4所述的设备，还包括镜子(9)，所述镜子(9)安装在所述激光辐射源(7)与所述经切割的钻石(1)之间，其中，将所述激光辐射(8)引导至所述经切割的钻石(1)的表面是由所述镜子(9)提供的。

6.根据权利要求4所述的设备，其中，用于输出辐射的所述光纤(3)包括两个光纤部段，所述两个光纤部段通过两个准直透镜(4)彼此光学地耦合，其中，所述可移动的光学系统(15)还包括陷波滤光器(5)，所述陷波滤光器(5)适于设置在所述两个准直透镜(4)之间，以减弱来自所述辐射源(10，12，7)的辐射强度。

7.根据权利要求6所述的设备，其中，所述陷波滤光器(5)设置有移动输入/输出机构(14)，所述移动输入/输出机构(14)用于在从具有250nm至280nm波长的辐射源(12)输出光学辐射时将所述陷波滤光器(5)从辐射光学路径移除。

8.根据权利要求1所述的设备，其中，所述测量孔口形成在所述测量位置(2)的中央区域中，用于向所述钻石的表面供给辐射。

9.根据权利要求7所述的设备，其中，所述微控制器还配置成对用于将所述陷波滤光器(5)从所述辐射光学路径移除的所述移动输入/输出机构(14)进行控制。