[发明专利]质量分析装置以及离子检测装置有效
申请号: | 201680090255.9 | 申请日: | 2016-10-24 |
公开(公告)号: | CN109952629B | 公开(公告)日: | 2021-03-02 |
发明(设计)人: | 西口克 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | H01J49/10 | 分类号: | H01J49/10 |
代理公司: | 上海立群专利代理事务所(普通合伙) 31291 | 代理人: | 杨楷;毛立群 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 质量 分析 装置 以及 离子 检测 | ||
1.一种质量分析装置,具有:离子源,包含离子化探针,该离子化探针将液体试样喷雾至大气压气氛下的离子化室内;离子导入部,将在该离子源产生的、源自从所述离子化探针喷雾的试样液滴中所含的成分的离子从所述离子化室向真空室输送,
以使来自所述离子化探针的液体试样的喷雾方向与所述离子导入部导入来自所述离子化室内的离子的导入方向正交的方式,确定所述离子化探针以及所述离子导入部的配置,其特征在于,该质量分析装置具备:
a)聚焦电极,配置为不接触所述离子导入部并包围该离子导入部的导入口周围;
b)反射电极,隔着来自所述离子化探针的试样液滴的喷雾流而配置在与所述离子导入部的导入口以及所述聚焦电极对置的位置;
c)用于屏蔽电场的辅助电极,配置在所述离子化探针与所述反射电极及所述聚焦电极之间,设置有开口部,能够供从该离子化探针喷雾的液滴及由此产生的离子通过;
d)电压施加部,分别向所述反射电极、所述聚焦电极以及所述离子导入部的导入口施加不同的电压,以形成电场,使通过所述反射电极与所述聚焦电极之间的喷雾流中的离子朝向该聚焦电极、并且从该聚焦电极朝向所述导入口。
2.如权利要求1所述的质量分析装置,其特征在于,
所述聚焦电极是平板状的电极,具有供所述离子导入部插通的开口部,在与该离子导入部的导入口的中心轴正交的面平行地延展,
所述反射电极为与所述聚焦电极平行的平板状的电极、或以与喷雾流的中心轴平行的直线为中心轴的部分圆筒状的电极。
3.如权利要求1所述的质量分析装置,其特征在于,所述电压施加部根据作为测量对象的离子的质荷比,改变施加于所述反射电极、所述聚焦电极以及所述离子导入部的导入口中的至少一个的电压。
4.如权利要求1所述的质量分析装置,其特征在于,所述离子源是利用电喷雾离子化法的离子源。
5.如权利要求1所述的质量分析装置,其特征在于,所述离子源是利用大气压化学离子化法的离子源。
6.如权利要求1所述的质量分析装置,其特征在于,所述离子源是利用大气压光离子化法的离子源。
7.一种离子检测装置,其特征在于,具备:
a)离子化探针,在大气压气氛中喷雾液体试样;
b)离子检测电极,配置在来自所述离子化探针的喷雾流的前方,检测从该喷雾流产生的离子,
c)聚焦电极,配置为与所述离子检测电极不接触,并包围所述离子检测电极的周围;
d)反射电极,隔着来自所述离子化探针的喷雾流而配置在与所述离子检测电极以及所述聚焦电极对置的位置,
e)用于屏蔽电场的辅助电极,配置在所述离子化探针与所述反射电极及所述聚焦电极之间,设置有开口部,能够供从该离子化探针喷雾的液滴及由此产生的离子通过,
f)电压施加部,分别对所述反射电极、所述聚焦电极以及所述离子检测电极施加不同的电压,以形成电场,使通过所述反射电极与所述聚焦电极之间的喷雾流中的离子朝向该聚焦电极、并且从该聚焦电极朝向所述离子检测电极。
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