[发明专利]光致电离检测器紫外线灯有效
| 申请号： | 201680090650.7 | 申请日： | 2016-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN109923409B | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 苏爱民;曹中兴;陈冰;梁枫 | 申请（专利权）人： | 霍尼韦尔国际公司 |
| 主分类号： | G01N27/66 | 分类号： | G01N27/66 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 陈岚 |
| 地址： | 美国新*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 致电 检测器 紫外线 | ||
1.一种紫外线灯(100)，所述紫外线灯用于与光致电离检测器一起使用，所述紫外线灯(100)包括：
密封管(102)，所述密封管被构造成含有至少一种气体；
涂层(120)，所述涂层施加到所述密封管(102)的内表面(110)上，其中所述涂层(120)包含以下材料：用于提供保护以免受高能离子轰击的抗溅射材料、生成二次电子发射的材料，以及具有强UV光反射的材料；和
晶体窗口(112)，所述晶体窗口附接到所述密封管(102)，被构造成允许所述密封管(102)内生成的紫外光的透射。
2.根据权利要求1所述的紫外线灯(100)，其中所述涂层(120)包含氧化镁(MgO)。
3.根据权利要求1所述的紫外线灯(100)，其中所述涂层(120)使用射频溅射施加到所述密封管(102)的所述内表面(110)上。
4.根据权利要求1所述的紫外线灯(100)，其中所述涂层(120)使用电子束蒸发施加到所述密封管(102)的所述内表面(110)上。
5.根据权利要求1所述的紫外线灯(100)，其中所述涂层(120)使用化学气相沉积施加到所述密封管(102)的所述内表面(110)上。
6.根据权利要求1所述的紫外线灯(100)，其中所述涂层(120)使用湿化学施加方法施加到所述密封管(102)的所述内表面(110)上。
7.根据权利要求1所述的紫外线灯(100)，还包括至少一种气体，所述至少一种气体密封在所述密封管(102)内，其中所述气体被构造成在电离时生成紫外光，并且其中所述紫外光经由所述晶体窗口(112)被导出所述密封管(102)。
8.一种形成用于与光致电离检测器一起使用的紫外线灯(100)的方法，所述方法包括：
将至少一层涂层(120)施加到密封管(102)的内表面(110)上，其中所述涂层(120)包含以下材料：用于提供保护以免受高能离子轰击的抗溅射材料、生成二次电子发射的材料，以及具有强UV光反射的材料；
将晶体窗口(112)密封到所述密封管(102)上；
用至少一种气体填充所述密封管(102)；
密封含有所述至少一种气体的所述密封管(102)；
使用所述密封管(102)内的所述至少一种气体生成紫外线辐射；以及
将所生成的紫外线辐射通过所述晶体窗口(112)导向所述光致电离检测器中的样品气体。
9.根据权利要求8所述的方法，还包括通过所述涂层(120)反射所生成的紫外线辐射；以及将所反射的紫外线辐射导向所述光致电离检测器中的所述样品气体。
10.根据权利要求9所述的方法，还包括：
使用所生成和反射的紫外线辐射来使所述样品气体电离；
检测通过所述电离产生的电流；以及
基于所检测的电流来确定所述样品气体的浓度。
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