[发明专利]一种多通道校正方法及装置、幅度校正方法、相位校正方法、收发系统和基站有效
申请号: | 201680090900.7 | 申请日: | 2016-11-15 |
公开(公告)号: | CN109964412B | 公开(公告)日: | 2020-09-29 |
发明(设计)人: | 张志伟;王伟 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | H04B3/36 | 分类号: | H04B3/36 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 通道 校正 方法 装置 幅度 相位 收发 系统 基站 | ||
1.一种多通道校正装置,其特征在于,应用于N个发射通道,包括校正控制单元和校正馈电单元;所述校正馈电单元包括M个检波器;每个所述检波器的两个输入端分别与两个通道耦合,每个检波器的一个输入端与另一个检波器的一个输入端共同耦合一个通道;所述校正控制单元分别与M个检波器连接;其中,N为大于等于2的整数;
第m检波器用于对第r通道的校正测量信号和第k通道的校正测量信号进行检波,获取表征第r通道和第k通道幅度信息和/或相位信息的电平信号;其中,1≤m≤M,1≤r≤N,1≤k≤N,r≠k,M为大于等于1的整数;
所述校正控制单元用于根据第m检波器获取的表征第r通道和第k通道幅度信息的电平信号,得到表征所述第r通道幅度的检波电平和表征第k通道幅度的检波电平;和/或根据第m检波器获取的表征第r通道和第k通道相位信息的电平信号,得到表征第r通道和第k通道相位偏差的电平偏差;
所述校正控制单元还用于根据表征所述第r通道幅度的检波电平和表征第k通道幅度的检波电平是否存在电平偏差,得到幅度校正系数,所述幅度校正系数用于校正所述第m检波器所耦合的两个通道的幅度;和/或根据预设电平偏差与表征第r通道和第k通道相位偏差的电平偏差,得到相位校正系数,所述相位校正系数用于校正所述第m检波器所耦合的两个通道的相位。
2.根据权利要求1所述的多通道校正装置,其特征在于,所述多通道校正装置还包括:与所述N个发射通道一一对应连接的N个执行单元;每个执行单元还与校正控制单元连接,每个所述执行单元用于根据幅度校正系数调整与所述执行单元连接的通道的幅度,和/或根据相位校正系数调整与所述执行单元连接的通道的相位。
3.根据权利要求1所述的多通道校正装置,其特征在于,所述校正控制单元包括控制模块和数据处理模块;所述数据处理模块分别与M个检波器的输出端连接;
所述控制模块用于控制所述数据处理模块根据表征第r通道和第k通道幅度信息的电平信号,读取所述第m检波器发送的表征第r通道和第k通道幅度的检波电平,和/或控制所述数据处理模块根据表征第r通道和第k通道相位信息的电平信号,读取所述第m检波器发送的表征第r通道和第k通道相位偏差的电平偏差;
所述数据处理模块用于根据表征所述第r通道幅度的检波电平和表征第k通道幅度的检波电平是否存在电平偏差,得到幅度校正系数;和/或根据预设电平偏差与表征第r通道和第k通道相位偏差的电平偏差,得到相位校正系数;
所述数据处理模块还用于与执行单元连接;
所述控制模块还用于控制所述数据处理模块向执行单元发送幅度校正系数,使所述执行单元根据幅度校正系数调整第m检波器所耦合的通道的幅度;和/或控制所述数据处理模块向执行单元发送相位校正系数,使所述执行单元根据相位校正系数调整第m检波器所耦合的通道的相位。
4.根据权利要求1~3中任一项所述的多通道校正装置,其特征在于,M=N-1,第m检波器所耦合的通道为第m通道和第m+1通道,第m+1检波器所耦合的通道为第m+1通道和第m+2通道;其中,1≤m≤N-2。
5.根据权利要求1~3中任一项所述的多通道校正装置,其特征在于,M=N;其中,
当1≤m≤N-2,第m检波器所耦合的通道为第m通道和第m+1通道,第m+1检波器所耦合的通道为第m+1通道和第m+2通道;
当m=N,第m检波器所耦合的通道为第N通道和第t通道,其中,1≤t≤N-2。
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