[发明专利]基板检测用治具

说明书

本发明涉及一种用于倾斜基板检测用接触件的结构简单、并可有效检测基板的基板检测用治具，它包括：包括有用于检测检测基板布线图的前端和通过电极连接于检测装置的后端的接触件；设置于电极上面、形成有用于引导和固定后端而使后端连结于电极的接触件孔的基板；形成有用于引导和固定前端的上板接触件孔的上板，在接触件的前端固定于第一上板及第二上板的上板接触件孔、接触件的后端固定于第一基板接触件孔的状态下，可通过移动第二基板来完成位于空间部内的接触件的倾斜，结构简单。

技术领域

本发明涉及一种治具，特别是涉及一种用于倾斜基板检测用接触件的结构简单、并可有效检测基板的基板检测用治具。

背景技术

通常，电路板的布线图上装备有集成电路等半导体、电阻器等电器、电子零件，所述电器和电子零件需要准确传输电信号。因此，安装电器、电子零件之前先测定布线图接触部分之间的电阻值，确定电特性或者判断好与坏。

具体而言，在每个接点接触供电端子或电压测量端子后，从供电端子向接点供给检测用电流的同时测量产生于接触在接点的电压测量端子之间的电压，并利用供给的电流和测量的电压计算所定接点之间的电阻值，从而判断好与坏。

为了通过在检测基板让布线图接点和检测装置接点相互接触来有效、准确地进行检测，需要使用支撑多个接触件的检测治具。

为了使接触件更加稳定地接触于布线图的接点和检测装置的接点，在所述接触件倾斜的状态下进行基板的检测。

目前，为了实现所述接触件的倾斜，一般采用移动检测治具接触件支撑层或改变其形状、移动检测装置电极、移动用于支撑检测装置电极的支架等方法。

另外，还公开有将容纳基板接触件的孔设置成倾斜状或倾斜地设置多个孔而使基板接触件倾斜的技术。

但是，实现接触件倾斜的结构复杂，而且，在倾斜状态下接触件不易弯曲。

现有技术文献

专利文献

专利文献0001 KR 10-1021744 B1

专利文献0002 KR 10-0975808 B1。

发明内容

本发明的目的是弥补现有技术的不足，提供一种用于倾斜基板检测用接触件的结构简单、接触件在倾斜状态下易发生弯曲的可有效检测基板的基板检测用治具。

为了达到上述目的，本发明采用的技术方案如下：

本发明基板检测用治具用于支撑多个接触件，所述接触件包括接触于检测基板的布线图而检测布线图的前端和通过电极连接于检测装置的后端，它包括设置于电极上面，并由形成有用于固定于所述电极的固定孔、引导和固定后端而使其连结于电极的接触件孔、用于位置变化的移动孔、用于恢复到原位的整合孔、用于相互排列的排列孔及用于相互结合的结合孔的第一基板、第二基板及第三基板依次叠层而形成的基板；及在支杆作用下相隔设置于基板上方，与基板之间形成有空间部，并由形成有用于排列基板的上板排列孔、用于固定于支杆的上板固定孔、用于引导及固定所述前端的上板接触件孔、用于相互结合的上板结合孔的第一上板和第二上板依次叠层而形成的上板；所述第二基板的排列孔直径大于所述第一基板的排列孔和第三基板的排列孔的直径，所述第二基板的结合孔直径大于所述第一基板的结合孔和所述第三基板的结合孔，所述第二基板的移动孔中心与所述第一基板的移动孔和第三基板的移动孔的中心相互错开设置。

所述移动孔内插入移动销时，所述第二基板向左右方向中的任意一向移动，使第一基板的移动孔、第二基板的移动孔及第三基板的移动孔中心相一致，使所述第二基板的整合孔中心与所述第一基板的整合孔和第三基板的整合孔中心相互错开，使所述空间部内的所述接触件向左或向倾斜。