[发明专利]触摸显示屏的测试方法和测试装置

说明书

本发明公开了一种触摸显示屏的测试方法和测试装置，所述方法包括：在触摸显示屏成盒阶段的电学性能检测过程中，一个检测阶段为所述显示屏的栅极驱动电路提供直流信号使所述显示屏的全部栅极同时打开，以检测所述显示屏的显示不良现象。由于为触摸显示屏的栅极驱动电路提供直流信号，触摸显示屏的画面将均匀显示，Touch线消失，检测人员可以免受Touch线的视觉干扰，从而大大提高检测人员对显示不良现象的视认性，从而有助提高触摸显示屏的不良检出率。

技术领域

本发明涉及液晶触摸屏技术领域，特别是指一种触摸显示屏的测试方法和测试装置。

背景技术

TFT-LCD(Liquid Crystal Display-Thin Film Transistor，液晶显示-薄膜晶体)是以液晶为介质、以薄膜晶体管为控制元件的集大规模半导体集成电路技术和平板光源技术于一体的光电子产品。随着便携式产品的触摸面板功能的发展，将触摸面板功能与液晶面板一体化的研究日渐盛行，将原本外置的触摸面板部件与液晶面板实现一体化，可以进一步实现面板的薄型化和轻量化。

IN-CELL技术是指将触摸面板功能嵌入到液晶像素中的方法。目前行业内的IN-CELL技术主要分为两种，分别为Hybrid IN CELL(HIC，复合式IN-CELL)和FULL IN CELL(FIC，完全式IN-CELL)。其中，FIC被称作“革命性IN-CELL”或者“真正”IN-CELL。

TFT-LCD Full In Cell Touch(内嵌式触摸显示)产品制造流程主要包括三部分：阵列(Array)工程，液晶成盒(Cell)工程和模组(Module)工程。Array工程主要是完成TFT玻璃基板的制备；Cell工程主要是液晶成盒工程；Module工程主要是在封口的液晶盒上绑定IC(芯片)和FPC(软板)的工程，从而基本完成触摸显示产品的制造过程。

为保证产品质量，需要在产品生产过程中进行性能测试。在触摸显示屏的Cell工程之后的液晶成盒(Cell)阶段进行测试可以筛选出不合格的显示屏，避免这些显示屏进入下一步Module工序而浪费IC等原材料。

目前，Cell阶段的电学性能测试(ET)过程，主要是将成盒的触摸显示屏(或称液晶盒)的GOA(Gate driver on Array，栅极驱动器阵列)引脚，即栅极驱动电路外接一个数字信号源，由数字信号源输出测试时序进行检测。如图1所示，数字信号源分别向液晶盒GOA的STV1、STV2等引脚输出时序交流信号。检测人员观察触摸显示屏的显示情况，甄别出不合格产品。

然而，实际应用中，发明人发现利用现有的检测方法，仍有部分不良品不能被检出，这些未检测出的不良品进入Module阶段，成为成品后才被检测出来，造成原材料浪费。本发明的发明人通过对现有测试方法进行分析，发现触摸显示屏成盒阶段进行电学性能测试时，由于Full In Cell Touch产品其特有的设计方式，导致数字信号在经过SW(Switch，帧开关)后驱动能力减弱，从而显示屏的画面显示出如图2所示的横纹，通常称之为Touch(触摸)线。由于Touch线的存在，干扰了检测人员对点、线、污渍等常规不良现象的视认性，导致部分不良品不能被检出。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提出一种触摸显示屏的测试方法和测试装置，用以在成盒阶段的电学性能测试过程中，提高对点、线、污渍等常规不良现象的视认性，有助提高触摸显示屏的不良检出率。

基于上述目的本发明提供一种触摸显示屏的测试方法，包括：

在触摸显示屏成盒阶段的电学性能检测过程中，一个检测阶段为所述显示屏的栅极驱动电路提供直流信号使所述显示屏的全部栅极同时打开，以检测所述显示屏的显示不良现象。

较佳地，在所述电学性能检测过程中，还包括：

在另一个检测阶段为所述显示屏的栅极驱动电路提供时序交流信号，以检测所述显示屏的栅极驱动器阵列GOA不良现象。