[发明专利]确定电压补偿值、消除mura的方法、装置以及显示屏体

权利要求书

1.一种确定屏体内像素电路电压补偿值的方法，其特征在于，包括：

根据预设测试电压，对屏体内的像素电路进行加压；

显示屏体获取所述像素电路的实际电性参数；

根据所述实际电性参数与理论电性参数的匹配程度，显示屏体确定针对所述像素电路的电压补偿值；

显示屏体将针对所述像素电路的电压补偿值保存至存储器；

其中，所述获取所述像素电路的实际电性参数，包括：

获取所述像素电路中薄膜晶体管的实际输出特性曲线，和/或有机发光二极管的实际电流电压曲线。

2.根据权利要求1所述的确定屏体内像素电路电压补偿值的方法，其特征在于，根据所述实际电性参数与预设理论电性参数的匹配程度，确定针对所述像素电路的电压补偿值，包括：

根据所述实际输出特性曲线，确定阈值电压，并根据所述阈值电压确定理论输出特性曲线，和/或根据所述实际电流电压曲线，确定开启电压，并根据所述开启电压确定理论电流电压曲线；

根据所述实际输出特性曲线与所述理论输出特性曲线的匹配程度，和/或所述实际电流电压曲线与所述理论电流电压曲线的匹配程度，确定针对所述像素电路的电压补偿值。

3.一种确定屏体内像素电路电压补偿值的装置，其特征在于，包括：第一加压单元、第一获取单元、确定单元以及存储单元，其中，

第一加压单元，用于根据预设测试电压，对屏体内的像素电路进行加压；

第一获取单元，用于获取所述像素电路的实际电性参数；

确定单元，用于根据所述实际电性参数与理论电性参数的匹配程度，确定针对所述像素电路的电压补偿值；

存储单元，用于将针对所述像素电路的电压补偿值保存至存储器；

其中，所述第一获取单元，用于：

获取所述像素电路中薄膜晶体管的实际输出特性曲线，和/或

获取所述像素电路中有机发光二极管的实际电流电压曲线。

4.根据权利要求3所述的确定屏体内像素电路电压补偿值的装置，

第一获取单元，用于：根据所述实际输出特性曲线，确定阈值电压；和/或根据所述实际电流电压曲线，确定

开启电压；以及根据所述阈值电压确定理论输出特性曲线，和/或根据所述开启电压确定理论电流电压曲线；

确定单元，用于：

根据所述实际输出特性曲线与所述理论输出特性曲线的匹配程度，和/或所述实际电流电压曲线与所述理论电流电压曲线的匹配程度，确定针对所述像素电路的电压补偿值。

5.一种消除屏体内mura的方法，其特征在于，包括：

接收针对屏体内像素电路的预设电压；

获取存储器中对所述像素电路的电压补偿值；

根据所述预设电压以及所述电压补偿值的加成值，对所述像素电路进行加压。

6.一种消除屏体内mura的装置，其特征在于，包括：接收单元、第二获取单元以及第二加压单元，其中，

接收单元，用于接收对屏体内像素电路的预设电压；

第二获取单元，用于获取存储器中对所述像素电路的电压补偿值；

第二加压单元，用于根据所述预设电压以及所述电压补偿值的加成值，对所述像素电路进行加压。

7.一种显示屏体，其特征在于，包括：像素电路、驱动模块、电压模块以及存储器，其中，

驱动模块，用于：将预设测试电压发送至电压模块；

获取所述像素电路的实际电性参数；

根据所述实际电性参数与理论电性参数的匹配程度，确定针对所述像素电路的电压补偿值；

所述驱动模块，具体用于获取所述像素电路中薄膜晶体管的实际输出特性曲线，和/或有机发光二极管的实际电流电压曲线；

电压模块，用于：

根据预设测试电压，对屏体内的所述像素电路进行加压；

接收对屏体内所述像素电路的预设电压；

获取所述存储器中针对所述像素电路的电压补偿值；

根据预设电压以及电压补偿值的加成值，对所述像素电路进行加压；

所述存储器，用于：保存针对所述像素电路的电压补偿值。

8.根据权利要求7所述的显示屏体，其特征在于，驱动模块，用于：

根据所述实际输出特性曲线，确定阈值电压，并根据所述阈值电压确定理论输出特性曲线，和/或

根据所述实际电流电压曲线，确定开启电压，并根据所述开启电压确定理论电流电压曲线；

根据所述实际输出特性曲线与所述理论输出特性曲线的匹配程度，和/或所述实际电流电压曲线与所述理论电流电压曲线的匹配程度，确定针对所述像素电路的电压补偿值。