[发明专利]一种IGBT模块测试装置

说明书

本发明公开了一种IGBT模块测试装置，包括具有探针且位置固定的测试工装，还包括用以固定IGBT模块的热板，所述热板能够带动所述IGBT模块向所述测试工装的方向运动，以实现所述IGBT模块的针状端子与所述探针接触，所述针状端子与所述探针之间设置导电片，且所述导电片包括用以与所述针状端子相接触的倾斜端和用以与所述探针相接触的水平端。上述IGBT模块测试装置，提高了测试的稳定性，并且消除了在测试过程中，对IGBT模块针状端子产生的机械损伤，延长了使用寿命。

技术领域

本发明涉及测试装置领域，特别涉及一种IGBT模块测试装置。

背景技术

在IGBT模块工艺流程中，为评估模块的电参数特性，需要对完成封装的IGBT模块进行测试。通常来说，通过母排端子将IGBT模块内部互连电路引出，以提供和外部电路测试和连接的端口。

在现有技术中，对于带针状端子的IGBT模块，由于针状端子的尺寸较小，且间距较窄，无法使用接触面积较大的弹簧探针对模块进行测试，且探针在与针状端子接触过程中，由于IGBT模块的定位偏差及接触打滑等因素，容易导致接触不良，影响IGBT模块的测试。无法确保针状端子与弹簧探针对准，容易导致探针与模块针状端子接触不良，进而影响IGBT模块测试。在运动过程中，由于在接触时可能会发生打滑，在这种应力的作用下，模块针状端子可能会发生变形，甚至断裂，而导致模块无法使用。

发明内容

本发明的目的是提供一种IGBT模块测试装置，该IGBT模块测试装置可以实现弹簧探针与IGBT模块良好的接触，提高测试的稳定性，并消除测试过程中，对模块针状端子产生的机械损伤。

为实现上述目的，本发明提供一种IGBT模块测试装置，包括具有探针且位置固定的测试工装，还包括用以固定IGBT模块的热板，所述热板能够带动所述IGBT模块向所述测试工装的方向运动，以实现所述IGBT模块的针状端子与所述探针接触，所述针状端子与所述探针之间设置导电片，且所述导电片包括用以与所述针状端子相接触的倾斜端和用以与所述探针相接触的水平端。

相对于上述背景技术，本发明提供的IGBT模块测试装置，利用导电片的倾斜端和水平端分别与针状端子和探针相接触，由于水平端具有一定的长度，因此水平端与探针相接触时，探针在水平方向上可以有一定的误差或位移，只要探针位于水平端的区域范围之内，均可以实现对IGBT模块进行测试，这样一来，避免了现有技术中，由于针状端子和探针直接接触所导致的容易发生变形等事故；换句话说，本发明的核心在于将针状端子和探针之间类似于轴孔接触的方式改变为面面接触，即，在针状端子与探针之间设置导电片，且导电片的倾斜端和水平端分别与针状端子和探针的接触面积增大，进而提高了测试的稳定性，并且消除了在测试过程中，对IGBT模块针状端子产生的机械损伤，延长了使用寿命。

优选地，还包括用以固定所述导电片的适配板，所述适配板设置于所述IGBT模块上。

优选地，所述适配板包括相互连接的上板和下板，所述上板设置用以将所述导电片固定于所述上板的定位块。

优选地，所述上板的上表面设置用以固定所述水平端的导电片定位槽；所述上板的下表面设置用以固定定位块的定位块定位槽；所述导电片还包括与所述水平端连接的侧边，底边分别连接于所述侧边和所述倾斜端，且所述导电片具体为能够供所述定位块嵌入的凹槽状；所述导电片定位槽与所述定位块定位槽之间设置有能够供所述水平端由所述下表面伸入所述导电片定位槽的通槽；所述下板设置用以供所述针状端子伸入并与所述倾斜端接触的扁平槽。

优选地，所述定位块为凸台，所述凸台的顶部通过所述通槽设置于所述上表面，且所述凸台的两侧卡接于所述定位块定位槽的两侧。

优选地，所述下板设置用以容纳所述底边的容纳槽。

优选地，所述容纳槽与所述底边涂胶粘贴。

优选地，还包括用以带动所述热板在竖直方向上运动的活塞缸。