[发明专利]一种太赫兹频段同步测量材料透波反射特性的方法和装置

权利要求书

1.一种太赫兹频段同步测量材料透波反射特性的方法，其特征在于，该方法包括：

设置一个用于测量透射系数的透射探测光路和一个用于测量反射系数的反射探测光路；

在材料板支架上放置参考样板，使得太赫兹脉冲波以45度角斜入射到参考样板，并使得被参考样板反射的太赫兹脉冲波输出至反射探测光路中的第二探测器；

撤去参考样板，使得太赫兹脉冲波直接输出至透射探测光路中的第一探测器；

第一探测器将接收到的太赫兹脉冲波转换为第一参考信号，第二探测器将接收到的太赫兹脉冲波转换为第二参考信号；

在材料板支架上放置待测材料板，使得太赫兹脉冲波以45度角斜入射到待测材料板，并使得被待测材料板透射的太赫兹脉冲波输出至透射探测光路中的第一探测器，同时使得被待测材料板反射的太赫兹脉冲波输出至反射探测光路中的第二探测器；

第一探测器将接收到的太赫兹脉冲波转换为透射信号，第二探测器将接收到的太赫兹脉冲波转换为反射信号；

根据所述透射信号、反射信号、第一参考信号和第二参考信号，计算得到待测材料板的透射系数、反射系数和所需的电磁参数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，透射系数和反射系数通过如下的公式计算得到：

$\mathrm{\τ}=\frac{I_r\left(\mathrm{\ω}\right)}{I_{r0}\left(\mathrm{\ω}\right)},t=\frac{I_s\left(\mathrm{\ω}\right)}{I_i\left(\mathrm{\ω}\right)};$

其中，τ和t分别表示反射系数和透射系数，I_r(ω)和I_s(ω)分别为待测材料板的反射信号和待测材料板的透射信号经傅立叶变换以后得到的信号强度，I_r0(ω)和I_i(ω)分别为第二参考信号和第一参考信号经傅立叶变换以后得到的信号强度。