[发明专利]针对逻辑和CPU均可读写存储器的测试方法有效

专利信息
申请号: 201710005111.5 申请日: 2017-01-04
公开(公告)号: CN106653098B 公开(公告)日: 2020-06-16
发明(设计)人: 段光生;唐飞;孙冠男 申请(专利权)人: 盛科网络(苏州)有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 代理人: 王锋
地址: 215000 江苏省无锡市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 针对 逻辑 cpu 均可 读写 存储器 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种针对逻辑和CPU均可读写存储器的测试方法,其特征在于:

待测试存储器分别为逻辑操作和CPU操作分配访问地址,分配的地址不超过所述存储器的地址边界,且逻辑操作的地址与CPU操作的地址互不相同;

发送一定数量的激励,进行模拟仿真测试,并在测试期间监测对所述存储器操作的正确性;所述激励包括逻辑操作和CPU操作对所述存储器同时进行读写操作;

所述逻辑操作包括所述激励发送逻辑报文至被测逻辑电路和验证模型,所述被测逻辑电路和验证模型根据报文信息对所述存储器进行读写操作。

2.根据权利要求1所述的针对逻辑和CPU均可读写存储器的测试方法,其特征在于,所述在测试期间监测对所述存储器操作的正确性包括:

在仿真测试期间监测CPU动态写所述存储器操作、CPU动态读所述存储器操作以及逻辑读写所述存储器操作的正确性。

3.根据权利要求1所述的针对逻辑和CPU均可读写存储器的测试方法,其特征在于:还包括在仿真测试前,打开验证模型自动检查开关,将验证模型与逻辑操作结果进行比较,用于检查逻辑设计的正确性。

4.根据权利要求1所述的针对逻辑和CPU均可读写存储器的测试方法,其特征在于:随机分配逻辑操作和CPU操作对存储器操作的地址。

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