[发明专利]SIR绝缘电阻测试系统

说明书

本发明提供的SIR绝缘电阻测试系统，包括：控制箱；程控高压电源，所述程控高压电源与所述控制箱连接，用于向所述控制箱提供电源；工控计算机，所述工控计算机与所述程控高压电源连接，用于控制所述程控高压电源；程控开关，所述程控开关与所述控制箱连接，用于多个测试通道之间的切换；交换机，所述交换机分别连接所述控制箱、所述工控计算机及所述程控开关，用于提供信号通路；外挂盒，所述外挂盒与所述程控开关连接；环境试验箱，所述环境试验箱与所述工控计算机连接；电流表，所述电流表与所述控制箱连接，用于测量。与现有技术相比，本发明的有益效果如下：1)简化重复的测试流程。2)避免人工测量的误差。3)更先进的数据分析。

技术领域

本发明涉及半导体印刷电路板技术领域，特别是指一种对各种绝缘材料的离子迁移特性进行评估的SIR绝缘电阻测试系统。

背景技术

随着半导体材料和印刷电路板的快速发展，用于评估被测物的表面绝缘阻值的测试测量设备随之被发明，它是评估在经受腐蚀和与离子污染物相伴产生的一些作用，板组装件的潜在问题。这些故障可能由材料交互作用、不充分的过程控制或拙劣的材料性能引起。薄层电阻、传导性和电解污染物泄漏都是影响绝缘电阻的因素。基于绝缘电阻测试的方法，不同的被测对象都有所不同，在用电过程中就存在着用电安全问题,在电器设备中,例如电机、电缆、家用电器等。它们的正常运行之一就是其绝缘材料的绝缘程度即绝缘电阻的数值。当受热和受潮时,绝缘材料便老化。其绝缘电阻便降低。从而造成电器设备漏电或短路事故的发生。为了避免事故发生,就要求经常测量各种电器设备的绝缘电阻。判断其绝缘程度是否满足设备需要。普通电阻的测量通常有低电压下测量和高电压下测量两种方式。而绝缘电阻由于一般数值较高(一般为兆欧级)。在低电压下的测量值不能反映在高电压条件下工作的真正绝缘电阻值。在先期的测试测量技术中主要分为两代测量技术：

1、比较原始的使用兆欧表测量。

优点：使用操作简单，价钱便宜。

缺点：精度太低，电压与电阻的关系不能正确反应，更不能长时间大规模的测量及科学的分析。

兆欧表也叫绝缘电阻表。它是测量绝缘电阻最常用的仪表。它在测量绝缘电阻时本身就有高电压电源,这就是它与测电阻仪表的不同之处。兆欧表用于测量绝缘电阻即方便又可靠。但是如果使用不当,它将给测量带来不必要的误差,我们必须正确使用兆欧表绝缘电阻进行测量。测量量程也只有2MΩ-4000MΩ，指针表盘式的读数也使测量数据不能精确读出。

2、使用微弱电流测量仪表与电压源的结合。

优点：测量加载电压可精确控制，电流参数也能精确测量，相对于第一代测量技术已经能精确控制测量参数。

缺点：对操作使用人员有一定的基础，每次需要人工手动去测量并手动记录测试数据，劳动强度大，并且在测试过程在会有被高压电击的危险性。每次测量会受到操作人员的影响，测试数据达不到高精度，特别是大规模测试时变的非常不利。

在这样的测试中，因为使用了高精程控电压及微弱电流测量仪表，因此精度及数据的可信度大大增加，满足了部份用户的需求，也使高阻值的测试能力大大增加，可以从1MΩ-1TΩ，但还是无法满足日益增长的测试需求，优其在大规模测试中，测量的微弱信号极易受到干扰。其人员操作素质不同，操作方式不同，测出的数据也将会变的不同，其结果也将变的不可控。每次的测量时间及测量间隔会受到人为因素的干扰，不能进行24小时不间断测量，测试数据的统计全由人工进行。以上的诸多因素导致了测量的准确性下降，不利于实验结果的分析。

发明内容

针对现有技术中的缺陷，本发明的目的是提供一种确保测量精确度的SIR绝缘电阻测试系统。