[发明专利]用于测试天线阵列的系统和方法

权利要求书

1.一种用于测试和/或校准天线阵列（4）的系统（100），所述系统（100）包括：

被测设备（1），所述被测设备（1）包括所述天线阵列（4）和用于在至少两个信号路径中的每一者上发送测试信号（20、30）的至少一个有源射频设备（6a、6b、6c、6d），所述测试信号（20、30）是已知的且总是相同的或部分相同的，

测量设备（2），所述测量设备（2）包括用于在所述至少两个信号路径中的每一者上接收所述测试信号（20、30）的至少一个探针（3），以及

开关矩阵（5），所述开关矩阵（5）用于将所述至少一个探针（3）的位置从所述至少两个信号路径中的一者变化到所述至少两个信号路径中的另一者，

其中，所述测试信号（20、30）在测试和/或校准的时间内是不可重复的测试信号，以及

其中，通过所述开关矩阵（5）自身、借助连接（9）将所述不可重复的测试信号送入所述至少一个有源射频设备（6a、6b、6c、6d）中的各个有源射频设备中。

2.根据权利要求1所述的系统（100），

其中，关于所述测试信号（20、30），振幅、频率、相位和空间依赖性中的至少一者随时间变化。

3.根据权利要求1或2所述的系统（100），

其中，所述至少一个探针（3）以定义的时间间隔测量所述至少两个信号路径中的每一者的输出。

4.根据权利要求1或2所述的系统（100），

其中，所述测量设备（2）收集关于所述至少两个信号路径中的每一者的测试数据。

5.根据权利要求1或2所述的系统（100），

其中，所述测量设备（2）测量将所述至少一个探针（3）的位置从所述至少两个信号路径中的一者变化到所述至少两个信号路径中的另一者所需的时间。

6.根据权利要求1或2所述的系统（100），

其中，基于对应的测量，所述测量设备（2）计算所述至少两个信号路径中的每一者的相位和/或所述至少两个信号路径中的每一对信号路径之间的相位差和/或所述至少两个信号路径中的每一者的振幅和/或所述至少两个信号路径中的每一对信号路径之间的振幅差。

7.根据权利要求1或2所述的系统（100），

其中，所述至少两个信号路径中的至少一对信号路径中的每个信号部分地或完全地包括相同的信号部分。

8.一种用于测试和/或校准天线阵列（4）的方法，所述方法使用被测设备（1）和测量设备（2），所述被测设备（1）包括所述天线阵列（4）和至少一个有源射频设备（6a、6b、6c、6d），所述测量设备包括至少一个探针（3），所述方法包括如下步骤：

在至少两个信号路径中的每一者上从所述被测设备（1）发送测试信号（20、30），所述测试信号（20、30）是已知的且总是相同的或部分相同的，

在所述测量设备（2）的所述至少一个探针（3）的辅助下，在所述至少两个信号路径中的每一者上接收所述测试信号（20、30），以及

在开关矩阵（5）的辅助下，将所述至少一个探针（3）的位置从所述至少两个信号路径中的一者变化到所述至少两个信号路径中的另一者，

其中，所述测试信号（20、30）在测试和/或校准的时间内是不可重复的测试信号，以及

其中，通过所述开关矩阵（5）自身、借助连接（9）将所述不可重复的测试信号送入所述至少一个有源射频设备（6a、6b、6c、6d）中的各个有源射频设备中。

9.根据权利要求8所述的方法，

其中，关于所述测试信号（20、30），振幅、频率、相位和空间依赖性中的至少一者随时间变化。

10.根据权利要求8或9所述的方法，

其中，所述至少一个探针（3）以定义的时间间隔测量所述至少两个信号路径中的每一者的输出。