[发明专利]一种热成像镜头光学后焦的检测装置及检测方法

权利要求书

1.一种热成像镜头光学后焦的检测装置，其特征在于，包括依序排列的红外光源、标靶、准直扩束镜、分光镜、全反射镜头、标准镜头、红外探测器和控制装置；

所述准直扩束镜设置在一第一调整架上，所述标准镜头与所述红外探测器连接，所述红外探测器设置在一第二调整架上，所述控制装置与所述红外探测器连接；

所述控制装置用于控制所述红外探测器，并在所述控制装置的显示屏上显示所述红外探测器的成像图像；

所述检测装置具有一可调整的工作状态，于所述工作状态下：

将包括多片由上至下层叠的镜片的所述热成像镜头设置在所述分光镜与所述全反射镜头之间；

所述红外光源、所述标靶、所述准直扩束镜、所述热成像镜头和所述全反射镜头的中心同高且同轴；

所述分光镜与系统光轴成45度夹角，且所述分光镜的中心与所述系统光轴同高；

所述红外探测器位于所述标准镜头的后焦平面的位置，且所述标准镜头、所述红外探测器和所述分光镜的中心同高，所述标准镜头与所述红外探测器分别与所述系统光轴成90度夹角；

调整所述热成像镜头与所述全反射镜头之间的距离，以使所述红外探测器对所述标靶成清晰像；

测量得到所述热成像镜头中最下方的所述镜片与所述全反射镜头之间的距离作为所述热成像镜头的光学后焦值并输出。

2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，其特征在于，所述第一调整架为四维可调的调整架。

3.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述第二调整架为三维可调的调整架。

4.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述分光镜朝向所述热成像镜头的一面为反射面，所述分光镜朝向所述准直扩束镜的一面为透明面。

5.如权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述分光镜的所述反射面为50％穿透50％反射的反射膜层。

6.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述全反射镜头为铝平面反射镜。

7.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述红外探测器为凝视焦平面探测器。

8.如权利要求7所述的检测装置，其特征在于，所述红外探测器为工作在8-12μm波长下的长波非制冷探测器。

9.一种热成像镜头光学后焦的检测方法，其特征在于，提供一检测装置，所述检测装置包括依序排列的红外光源、标靶、准直扩束镜、分光镜、全反射镜头、标准镜头、红外探测器和控制装置；

所述准直扩束镜设置在一第一调整架上，所述标准镜头与所述红外探测器连接，所述红外探测器设置在一第二调整架上，所述控制装置与所述红外探测器连接；

所述控制装置用于控制所述红外探测器，并在所述控制装置的显示屏上显示所述红外探测器的成像图像；

所述检测方法包括：

步骤S1，将包括多片由上至下层叠的镜片的所述热成像镜头设置在所述分光镜与所述全反射镜头之间；

步骤S2，将所述红外光源、所述标靶、所述准直扩束镜、所述热成像镜头和所述全反射镜头的位置调整至中心同高且同轴；

步骤S3，将所述分光镜调整至与系统光轴成45度夹角，并且所述分光镜与所述系统光轴同高；

步骤S4，将所述标准镜头和所述红外探测器调整至使所述红外探测器位于所述标准镜头的后焦平面的位置；

步骤S5，将所述标准镜头和所述红外探测器调整至分别与所述分光镜同高且分别与所述系统光轴成90度夹角；

步骤S6，调整所述热成像镜头与所述全反射镜头之间的距离，以使所述红外探测器对标靶成清晰像；

步骤S7，测量得到所述热成像镜头中最下方的所述镜片与所述全反射镜头之间的距离作为所述热成像镜头的光学后焦值并输出。