[发明专利]料位测量设备有效
申请号: | 201710013945.0 | 申请日: | 2017-01-09 |
公开(公告)号: | CN107014464B | 公开(公告)日: | 2019-11-15 |
发明(设计)人: | 亚历山德拉·库季尔;罗伯·韦尔默朗 | 申请(专利权)人: | 恩德莱斯和豪瑟尔欧洲两合公司 |
主分类号: | G01F23/284 | 分类号: | G01F23/284 |
代理公司: | 11219 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 戚传江;金洁<国际申请>=<国际公布>= |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 设备 | ||
1.料位测量设备,用于测量产品(1)的料位(L),包括:
-安装装置(3),所述安装装置(3)用于将所述测量设备安装在测量位置,
-天线(9),所述天线(9)包括用于向所述产品(1)发送微波信号和/或用于接收由所发送的微波信号的反射产生的回波信号(R)的电介质天线元件(11),以及
-测量电子器件(15),所述测量电子器件(15)用于基于所述微波信号行进到所述产品(1)的表面以及其回波信号返回到所述设备所需的渡越时间确定所述产品(1)的所述料位(L),
其特征在于,
-所述设备进一步包括盖(25),所述盖(25)覆盖所述电介质天线元件(11),以及
-清洁装置(27),所述清洁装置(27)预知用于清洁所述盖(25),当所述清洁装置(27)启动时,其致使所述盖(25)的与信号传输路径间隔开的侧壁部分(41)振动。
2.根据权利要求1所述的料位测量设备,其特征在于,所述电介质天线元件(11)是包括指向所述产品(1)的球形前表面(13)的大致球形元件,所述微波信号将通过所述前表面发送和/或接收。
3.根据权利要求1所述的料位测量设备,其特征在于,
-所述天线(9)通过波导(17)连接到所述测量电子器件(15),
-延伸部(19)预知在所述天线元件(11)上,并且
-当所述设备被安装在所述测量位置时,所述延伸部(19)被固定在面向所述产品(1)的所述波导(17)的端部内。
4.根据权利要求1所述的料位测量设备,其特征在于,所述盖(25)由对将通过所述天线(9)发送和/或接收的所述微波信号透明的材料制成。
5.根据权利要求1所述的料位测量设备,其特征在于,所述盖(25)与所述天线元件(11)的前表面(13)间隔开,所述微波信号将通过所述前表面(13)发送和/或接收,所述间隔开的距离小但同时足够大以允许所述盖(25)自由地振动。
6.根据权利要求1所述的料位测量设备,其特征在于,
-当所述设备被安装在所述测量位置时,所述天线元件(11)被安装在面向所述产品(1)的波导(17)的端部上,并且
-安装装置(31),预知用于将所述盖(25)的圆柱形端部(33)安装到所述波导(17)的所述端部的外导体(29)上。
7.根据权利要求6所述的料位测量设备,其特征在于,
-加强件(35)预知在所述外导体(29)上,并且
-所述盖(25)的所述端部(33)被安装在所述加强件(35)上。
8.根据权利要求1所述的料位测量设备,其特征在于,
当所述设备通过隔离元件(21)被安装在测量位置时,所述测量电子器件(15)位于与所述天线元件(11)暴露于的所述测量位置隔离开的位置,
- 所述天线(9)通过延伸穿过所述隔离元件(21)的波导(17)连接到所述测量电子器件(15),并且
-当所述设备被安装在所述测量位置时,所述盖(25)被安装到所述隔离元件(21)面向所述测量位置的下侧上。
9.根据权利要求8所述的料位测量设备,其特征在于,
- 所述盖(25)的端部(33)包括在其外侧上的延伸部(37),并且
-所述延伸部(37)平行于所述隔离元件(21)的表面延伸,并且通过接合所述延伸部(37)的保持器(39)压靠所述表面,所述保持器(39)被安装到所述隔离元件(21)的所述下侧上。
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