[发明专利]一种自动曝光检测的X射线平板探测器及其传感器面板结构

权利要求书

1.一种自动曝光检测的X射线平板探测器的传感器面板结构，其特征在于，包括：

第一图像传感器阵列层，感应入射光以实现X射线成像；

第二图像传感器阵列层，包括多个感光区域，且所述多个感光区域均匀分布在所述第一图像传感器阵列层的下方，且在垂直方向上与所述第一图像传感器阵列层各像素之间的透光间隙重合，感应穿过所述第一图像传感器阵列层的入射光以实现全视野自动曝光检测；

基板，设于所述第二图像传感器阵列层远离所述第一图像传感器阵列层的下方；

其中，在所述第一图像传感器阵列层和所述第二图像传感器阵列层上均覆盖有钝化层。

2.根据权利要求1所述的自动曝光检测的X射线平板探测器的传感器面板结构，其特征在于：所述第二图像传感器阵列层的传感器数量少于所述第一图像传感器阵列层的传感器数量。

3.根据权利要求1所述的自动曝光检测的X射线平板探测器的传感器面板结构，其特征在于：所述第一图像传感器阵列层和所述第二图像传感器阵列层的电极焊盘位于所述传感器面板结构的边缘。

4.根据权利要求1所述的自动曝光检测的X射线平板探测器的传感器面板结构，其特征在于：所述第一图像传感器阵列层和所述第二图像传感器阵列层的电极焊盘通过穿过所述钝化层的过孔与外部连接。

5.根据权利要求1所述的自动曝光检测的X射线平板探测器的传感器面板结构，其特征在于：在所述第一图像传感器阵列层上设有闪烁体层，将入射的X射线转化为可见光。

6.一种自动曝光检测的X射线平板探测器，其特征在于，包括：

根据权利要求1-5任一项所述的传感器面板结构、与所述传感器面板结构连接的控制及处理模块，以及与所述控制及处理模块连接的通信模块；

其中，所述控制及处理模块向所述传感器面板结构的第一图像传感器阵列层和第二图像传感器阵列层输出控制信号，根据所述第二图像传感器阵列层检测穿过所述第一图像传感器阵列层的入射光读取所述第一图像传感器阵列层的图像信息，对所述图像信息进行处理；

所述通信模块输出处理后的图像数据。